81247-21: Talos F200 Микроскопы электронные просвечи-вающие - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы электронные просвечи-вающие Talos F200

Номер в ГРСИ РФ: 81247-21
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Thermo Fisher Scientific", США
Скачать
81247-21: Описание типа СИ Скачать 273.1 КБ
81247-21: Методика поверки МП ДИ20/30-2020 Скачать 3.5 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы электронные просвечи-вающие Talos F200 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллической решетки и локального элементного состава методом энергодисперсионной спектроскопии.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 81247-21
Наименование Микроскопы электронные просвечи-вающие
Модель Talos F200
Страна-производитель СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Срок свидетельства (Или заводской номер) 15.03.2026
Производитель / Заявитель

Фирма Thermo Fisher Scientific, США

СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 5
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 5 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 05.05.2024

Поверители

Скачать

81247-21: Описание типа СИ Скачать 273.1 КБ
81247-21: Методика поверки МП ДИ20/30-2020 Скачать 3.5 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллической решетки и локального элементного состава методом энергодисперсионной спектроскопии.

Описание

Принцип действия микроскопов основан на прохождении пучка ускоренных электронов через исследуемый объект, где происходит их рассеяние на кристаллической решетке или неоднородностях структуры объекта. В плоскости изображения объективной линзы, расположенной непосредственно за образцом, формируется действительное изображение объекта, а в ее фокальной плоскости формируется дифракционная картина, каждая точка которой соответствует определенному углу выхода электронов из образца.

Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему, в состав которой входят:

- модуль получения изображений,

- источник высокого напряжения,

- блок электроники;

- рабочее место оператора на базе специализированного управляющего компьютера;

- форвакуумный насос;

- система замкнутого водяного охлаждения;

Основным компонентом модуля получения изображений является электроннооптическая колонна. Электронно-оптическая колонна содержит электронную пушку и систему электронных линз: блок конденсорных линз, объективную линзу, блок промежуточных линз и проекционную линзу. Электронная пушка включает источник электронов типа Шоттки. Объективная линза сконструирована для работы в режиме постоянной мощности для повышения стабильности работы микроскопа. Объективная линза дополнена диафрагмой, положением которой можно управлять. Диафрагмы для конденсорных линз, для объективной линзы, селективная диафрагма для ограничения области исследования являются моторизованными.

Регистрация изображения в режиме просвечивающей электронной микроскопии осуществляется с помощью ПЗС-камеры со скоростью работы до 25 кадров в секунду. Для реализации СПЭМ - режима используются 4-х канальный детектор электронов. Модуль получения изображений также включает высокочувствительный энергодисперсионный спектрометр (опционально), запатентованная конструкция которого использует 4 SDD детектора.

Вакуумная система микроскопа является полностью безмасляной и реализована на базе форвакуумного, турбомолекулярного и двух магниторазрядных насосов.

Управляющее программное обеспечение позволяет проводить полное удаленное управление всеми функциями микроскопа, включая смену диафрагм, перемещение образца, фокусировку, стигмирование, управление вакуумной системой, контроль и визуализация изображения видеокамеры.

Микроскопы Talos F200 выпускаются в модификациях: Talos F200C G2, Talos F200S G2, Talos F200X G2, Talos F200i, которые отличаются в основном типом и соответственно яркостью электронной пушки, а также типом объективной линзы.

Пломбирование микроскопа не предусмотрено. Общий вид микроскопов и место нанесения знака поверки приведены на рисунках 1 и 2 для модификаций Talos F200i и Talos F200C G2, Talos F200S G2, Talos F200X G2 соответственно.

Место нанесения знака

Рисунок 1 - Общий вид микроскопа электронного просвечивающего Talos F200i.

Место нанесения знака поверки

Рисунок 2 - Общий вид микроскопа электронного просвечивающего Talos F200C G2 (Talos F200S G2, Talos F200X G2).

Программное обеспечение

Управление микроскопом и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «TEM user interface». ПО «TEM user interface» позволяет проводить измерения линейных размеров и параметров кристаллической решетки. ПО «TEM user interface» не может быть использовано отдельно от микроскопа.

Идентификационные данные программного обеспечения указаны в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационное наименование ПО

TEM user interface

Номер версии (идентификационный номер) ПО

1.15.1

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

-

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

-

Уровень защиты ПО соответствует типу «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерений линейных размеров, мкм

от 0,0004 до 30

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров при ускоряющем напряжении 200 кВ, нм (L-линейный размер, нм)

±(0,4+0,03-L)

Энергетическое разрешение энергодисперсионного спектрометра на линии Ka марганца при скорости счета менее 104 имп/с, эВ, не более

136*

* - опционально

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Пространственное разрешение по линиям в ПЭМ-режиме и ускоряющем напряжении 200 кВ, нм, не более

0,1

Диапазон регулирования увеличения в ПРЭМ режиме, крат

от 4300 до 2200000

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ

от 40 до 200

Максимальный ток электронного пучка, нА, не менее

50

Тип катода:

- Talos F200i

- Talos F200S G2

- Talos F200X G2, Talos F200C G2

S- FEG либо X-FEG

S- FEG X-FEG

Яркость электронной пушки при ускоряющем напряжении 200 кВ, А/см2/ср

- катод S-FEG

- катод X-FEG

4-108

1,8-109

Тип объективной линзы:

- Talos F200i, Talos F200S G2, Talos F200X G2;

- Talos F200C G2

X-TWIN C-TWIN

Размер матрицы ПЗС для регистрации изображений в ПЭМ-режиме, пикселей

4096х4096

Тип детекторов энергодисперсионного (EDS) спектрометра

SDD

Количество детекторов EDS спектрометра

4

Диапазон определяемых элементов в режиме энергодисперсионного спектрометра

От Be до Am

Масса, включая все комплектующие, кг, не более

3500

Габаритные размеры основных составных частей (ДхШхВ), мм, не более:

- модуль получения изображений

- источник высокого напряжения,

- блок электроники

2063х1465х2360 872x859x1618 1612x800x1962

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

-относительная влажность воздуха, %, не более

от +18 до +22 80

Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50/60 Гц, В

от 110 до 240

Потребляемая мощность, не более, Вт

11500

Знак утверждения типа

наносится на лицевую панель модуль получения изображений в виде наклейки, и на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп электронный просвечивающий

Talos F200 (модификации Talos F200C G2, Talos F200S G2, Talos F200X G2, Talos F200i)

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

МП ДИ20/30-2020

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в документе «Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200. Руководство по эксплуатации», раздел 30.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя.

Другие Микроскопы

Микроскоп конфокальный лазерный сканирующий VL2000DX (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и обеспечения трехмерной визуализации поверхности твердотельных объектов.
81342-21
Quattro S Микроскоп электронный сканирующий
"Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o.", Чешская Республика
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S (далее - микроскоп Quattro S) предназначен для измерений линейных размеров, формы и ориентации наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов.
81568-21
ML-7000 Микроскоп измерительный металлургический
Фирма "MEIJI TECHNO CO., Ltd.", Япония
Микроскоп измерительный металлургический ML-7000 (далее - микроскоп) предназначен для прецизионных измерений наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм.
82381-21
ВИМ Микроскопы видеоизмерительные
Общество с ограниченной ответственностью "ФОДИС" (ООО "ФОДИС"), Московская обл., г. Королев
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также определения взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах....
83645-21
TESCAN Микроскопы сканирующие электронные
TESCAN Brno s.r.o., Чешская Республика
Микроскопы сканирующие электронные TESCAN (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано - и микроструктур поверхностей различных объектов.