Микроскопы
Микроскопы в госреестре
98492-26
EmCrafts Сubе II
Микроскопы сканирующие электронные
EmCrafts Co., Ltd, КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #602, Misadongilnexus bldg., 30, Misagangbyeonjungang-ro 31beon-gil, Hanam-si, Gyeonggi-do 12939
Микроскопы сканирующие электронные EmCrafts С^е II (далее по тексту — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, определения формы, ориентации и других параметров, нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.
98353-26
ВИМ-III
Микроскопы видеоизмерительные
Производственная площадка: Zhenjiang Guanghua Weike Mechanical Tools Co., Ltd, КИТАЙ, No. 66 Dongfang Road, Jingkou District, Zhenjiang city, Jiangsu province; ООО «ФОДИС», РОССИЯ, 141075, Московская обл., г. Королев, пр-кт Космонавтов, д. 15, эт. 3, помещ. LXII
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-III (далее микроскопы) предназначены для мгновенных бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
98352-26
Atometrics AM-Series
Микроскопы сканирующие интерференционные белого света
Boardstone Intelligent Co., Ltd, КИТАЙ, 14f, Building C Kaifa Plaza, 7006 Caitian Rd., Futian, Shenzhen, Guangdong
Микроскопы сканирующие интерференционные белого света Atometrics AM-Series (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, параметров шероховатости и анализа поверхностей объектов.
97683-26
ADF
Микроскопы видеоизмерительные консольные
ООО «Д-МИКРО», РОССИЯ, 141402, Московская область, г. Химки, ул. Ленинградская, д. 1, корп. д, офис 312
Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров объектов в проходящем и отраженном свете.
96942-25
STM
Микроскопы измерительные
Jaten Technology Co., Ltd., КИТАЙ, No 28, Songlang Street, Shangqiao Industrial, Dongcheng District, Dongguan, Guangdong
Микроскопы измерительные STM (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров профилей и элементов поверхностей деталей в проходящем и отраженном свете.
96755-25
EM
Микроскопы сканирующие электронные измерительные
COXEM Co., Ltd., КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #201 199, Techno 2-ro (Migun Techno-World 1-cha), Yuseong-gu, Daejeon, 34025
Микроскопы сканирующие электронные измерительные EM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элемент...
96748-25
УИМ
Микроскопы универсальные измерительные
АО «РИК», РОССИЯ, 355020, Ставропольский край, г. Ставрополь, ул. Объездная, д. 27
Микроскопы универсальные измерительные УИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных изделий в прямоугольных и полярных координатах.
96307-25
LEXT OLS4100-SAF
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
OLYMPUS Corporation, ЯПОНИЯ, Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.
96294-25
Helios NanoLab 650
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
FEI Company, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ, 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650 (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур, проведения локальной стру...
96261-25
UNIMETRO ULTRA
Микроскопы видеоизмерительные консольные
Dongguan UNIMEТRO Precision Machinery Со., Ltd, КИТАЙ, No.4 Gangtou Hengcheng Road, Xin'an community, Chang'an Town, Dongguan City
Микроскопы видеоизмерительные консольные UNIMETRO ULTRA (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.