Микроскопы
Микроскопы в госреестре
99434-26
Eclipse L200ND
Микроскоп оптический инспекционный
Nikon Corporation, ЯПОНИЯ, 6-15, Harushinmachi, Oitashi, Oita 870-0912
Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.
99433-26
Eclipse L300N
Микроскоп оптический инспекционный
Nikon Corporation, ЯПОНИЯ, 6-15, Harushinmachi, Oitashi, Oita 870-0912
Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L300N (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.
99275-26
IQSCAN
Микроскопы сканирующие электронные
Pue (Shanghai) Innovation Incubator Management Co. Ltd., КИТАЙ, 619 room, building A, №58 Xiangke road, Shanghai Pilot Free Trade Zone
Микроскопы сканирующие электронные IQSCAN (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного анализа, определения формы, ориентации и др...
99091-26
TZTEK
Микроскопы видеоизмерительные консольные
TZTEK Technology Co., Ltd., КИТАЙ, No. 188 Wutaishan Road, New District, Suzhou City, Jiangsu Province
Микроскопы видеоизмерительные консольные TZTEK (далее - ВИМ) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей в проходящем и отраженном свете.
98492-26
EmCrafts Сubе II
Микроскопы сканирующие электронные
EmCrafts Co., Ltd, КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #602, Misadongilnexus bldg., 30, Misagangbyeonjungang-ro 31beon-gil, Hanam-si, Gyeonggi-do 12939
Микроскопы сканирующие электронные EmCrafts С^е II (далее по тексту — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, определения формы, ориентации и других параметров, нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.
98353-26
ВИМ-III
Микроскопы видеоизмерительные
Производственная площадка: Zhenjiang Guanghua Weike Mechanical Tools Co., Ltd, КИТАЙ, No. 66 Dongfang Road, Jingkou District, Zhenjiang city, Jiangsu province; ООО «ФОДИС», РОССИЯ, 141075, Московская обл., г. Королев, пр-кт Космонавтов, д. 15, эт. 3, помещ. LXII
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-III (далее микроскопы) предназначены для мгновенных бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
98352-26
Atometrics AM-Series
Микроскопы сканирующие интерференционные белого света
Boardstone Intelligent Co., Ltd, КИТАЙ, 14f, Building C Kaifa Plaza, 7006 Caitian Rd., Futian, Shenzhen, Guangdong
Микроскопы сканирующие интерференционные белого света Atometrics AM-Series (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, параметров шероховатости и анализа поверхностей объектов.
97683-26
ADF
Микроскопы видеоизмерительные консольные
ООО «Д-МИКРО», РОССИЯ, 141402, Московская область, г. Химки, ул. Ленинградская, д. 1, корп. д, офис 312
Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров объектов в проходящем и отраженном свете.
96942-25
STM
Микроскопы измерительные
Jaten Technology Co., Ltd., КИТАЙ, No 28, Songlang Street, Shangqiao Industrial, Dongcheng District, Dongguan, Guangdong
Микроскопы измерительные STM (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров профилей и элементов поверхностей деталей в проходящем и отраженном свете.
96755-25
EM
Микроскопы сканирующие электронные измерительные
COXEM Co., Ltd., КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #201 199, Techno 2-ro (Migun Techno-World 1-cha), Yuseong-gu, Daejeon, 34025
Микроскопы сканирующие электронные измерительные EM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элемент...