Микроскопы
Микроскопы в госреестре
96942-25
STM
Микроскопы измерительные
Jaten Technology Co., Ltd., КИТАЙ, No 28, Songlang Street, Shangqiao Industrial, Dongcheng District, Dongguan, Guangdong
Микроскопы измерительные STM (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров профилей и элементов поверхностей деталей в проходящем и отраженном свете.
96755-25
EM
Микроскопы сканирующие электронные измерительные
COXEM Co., Ltd., КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #201 199, Techno 2-ro (Migun Techno-World 1-cha), Yuseong-gu, Daejeon, 34025
Микроскопы сканирующие электронные измерительные EM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элемент...
96748-25
УИМ
Микроскопы универсальные измерительные
АО «РИК», РОССИЯ, 355020, Ставропольский край, г. Ставрополь, ул. Объездная, д. 27
Микроскопы универсальные измерительные УИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных изделий в прямоугольных и полярных координатах.
96307-25
LEXT OLS4100-SAF
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
OLYMPUS Corporation, ЯПОНИЯ, Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.
96294-25
Helios NanoLab 650
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
FEI Company, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ, 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650 (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур, проведения локальной стру...
96261-25
UNIMETRO ULTRA
Микроскопы видеоизмерительные консольные
Dongguan UNIMEТRO Precision Machinery Со., Ltd, КИТАЙ, No.4 Gangtou Hengcheng Road, Xin'an community, Chang'an Town, Dongguan City
Микроскопы видеоизмерительные консольные UNIMETRO ULTRA (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
96192-25
ВИМ-II
Микроскопы видеоизмерительные
ООО "Фодис", РОССИЯ, No. 66 Dongfang Road, Jingkou District, Zhenjiang City, Jiangsu Province
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
95815-25
IIS
Микроскопы видеоизмерительные
GUIZHOU SUNPOC TECH INDUS-TRY CO., LTD, КИТАЙ, NO. U3-303, B5, Bishuyuntian, Century Garden, Yunyan District, Guiyang City, Guizhou, 550004
Микроскопы видеоизмерительные IIS (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных размеров деталей, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных координатах в режиме ручного...
95798-25
JEM-2100 Plus
Микроскоп просвечивающий электронный измерительный
JEOL Ltd., ЯПОНИЯ, 1-2 Musashino 3-chome, Akishima, Tokyo, 196-8558
Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров к...
94689-25
Himera
Микроскопы сканирующие электронные измерительные
Фирма "Anhui Zhongtai Huayi Communication Technology Co., Ltd.", Китай
Микроскопы сканирующие электронные измерительные Himera (далее -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элем...