Микроскопы
Микроскопы в ГРСИ РФ
84113-21
Thermo Fisher Scientific Микроскопы сканирующие электронные
Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o., Чешская Республика
Микроскопы сканирующие электронные Thermo Fisher Scientific (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.
Микроскопы сканирующие электронные TESCAN (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано - и микроструктур поверхностей различных объектов.
82381-21
ВИМ Микроскопы видеоизмерительные
Общество с ограниченной ответственностью "ФОДИС" (ООО "ФОДИС"), Московская обл., г. Королев
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также определения взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах....
Микроскоп измерительный металлургический ML-7000 (далее - микроскоп) предназначен для прецизионных измерений наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм.
81342-21
Quattro S Микроскоп электронный сканирующий
"Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o.", Чешская Республика
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S (далее - микроскоп Quattro S) предназначен для измерений линейных размеров, формы и ориентации наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов.
Микроскоп конфокальный лазерный сканирующий VL2000DX (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и обеспечения трехмерной визуализации поверхности твердотельных объектов.
Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллическо...
80322-20
Quattro S ESEM Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
79845-20
Walter UHL Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.