Микроскопы
Микроскопы в госреестре
Микроскопы видеоизмерительные консольные TZTEK (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные портальные TZTEK VMG (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
89837-23
ИМ
Микроскопы измерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Профноватор" (ООО "Профноватор"), г. Челябинск
Микроскопы измерительные ИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные Jaten (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Микроскопы конфокальные MarSurf CM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий.
87394-22
"НаноСкан-01"
Микроскопы интерференционные
Общество с ограниченной ответственностью "Электростекло" (ООО "Электростекло"), г. Москва
Микроскопы интерференционные «НаноСкан-01» (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений параметров шероховатости Rmax, Ra по ГОСТ 25142-82 для производственного оптического контроля.
87161-22
LEXT OLS5100
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Фирма OLYMPUS Corporation, Япония
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5100 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
86403-22
Themis Z G3
Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Thermo Fisher Scientific", Нидерланды
Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц, определения их элементного состава методом энергодисперсио...
86402-22
Phenom
Микроскопы электронные растровые настольные
Фирма "Thermo Fisher Scientific", Нидерланды
Микроскопы электронные растровые настольные Phenom (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементн...
Система микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX (далее - система) предназначена для измерений линейных размеров в плоскости XY нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.