Микроскопы
Микроскопы в ГРСИ РФ
55118-13
EVO MA25 Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
53938-13
TESCAN серии VEGA, VELA, INDUSEM, TIMA, MIRA, LYRA, FERA Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "TESCAN, a.s.", Чехия
53251-13
JSM-6x10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A) Микроскопы электронные растровые
Компания "JEOL Ltd.", Япония
Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область применения - лаборатории предприятий и научно-исследовательских институтов.
Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерения масштабного коэффициента видеоизображения при помощи получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, а также для э...
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локаль...
52096-12
РАМ-30µ Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические
ЗАО "Научные приборы", г.С.-Петербург
Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30µ предназначены для измерения содержания элементов в точках фокусирования рентгеновских лучей на поверхности исследуемого образца.
Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400 (далее - микроскоп) предназначен для измерений параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением.