Микроскопы
Микроскопы в госреестре
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
12129-20
ИМЦЛ 100x50, А
Микроскопы инструментальные
АО«НПЗ», РОССИЯ, 630049, г. Новосибирск, улица Дуси Ковальчук, д. 179/2
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100*50, А (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.
76632-19
LEXT OLS5000
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Фирма "OLYMPUS Corporation", ЯПОНИЯ
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
76481-19
Hitachi TM4000/TM4000Plus
Микроскопы сканирующие электронные с приставкой для энергодисперсионного микроанализа
Фирма "HITACHI High-Technologies Corporation", ЯПОНИЯ
Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микрорельефа и электроннозондового рентгеноспектрального каче...
75820-19
Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL
Микроскопы электронные растровые настольные
Фирма "Thermo Fisher Scientific", НИДЕРЛАНДЫ
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...
75595-19
GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA
Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", ГЕРМАНИЯ
Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
74241-19
серий МВ и МВZ
Микроскопы видеоизмерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Профноватор" (ООО "Профноватор"), г. Челябинск
Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и МВ2 (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
73441-18
EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS
Микроскопы электронные растровые настольные
Фирма "COXEM Co., Ltd.", Республика Корея
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа (все модифи...
71332-18
CW-2020N-PC
Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)
Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.