Микроскопы
Микроскопы в госреестре
75595-19
GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA
Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", ГЕРМАНИЯ
Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
74241-19
серий МВ и МВZ
Микроскопы видеоизмерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Профноватор" (ООО "Профноватор"), г. Челябинск
Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и МВ2 (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
73441-18
EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS
Микроскопы электронные растровые настольные
Фирма "COXEM Co., Ltd.", Республика Корея
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа (все модифи...
71332-18
CW-2020N-PC
Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)
Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.
70123-18
CW-2515N
Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)
Микроскоп измерительный модель CW-2515N (далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.
Микроскопы конфокальные pSurf (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий в области оптического производственного контроля.
69132-17
Garant серии MM-OS
Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", ГЕРМАНИЯ
Микроскопы видеоизмерительные Garant серии MM-OS (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, а также суспензий микро- и наночастиц, нанесенных на полимерную или углеродную...
69048-17
Helios NanoLab 650
Микроскоп электронно-ионный растровый
Фирма "FEI Ltd.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной моди...
67838-17
Keysight 5600LS
Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Keysight Technologies Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп атомно-силовой Keysight 5600LS (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.