71332-18: CW-2020N-PC Микроскоп измерительный - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп измерительный CW-2020N-PC

Номер в ГРСИ РФ: 71332-18
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань
Скачать
71332-18: Описание типа СИ Скачать 119.6 КБ
71332-18: Методика поверки 437-151-2018МП Скачать 2 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп измерительный CW-2020N-PC поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 71332-18
Наименование Микроскоп измерительный
Модель CW-2020N-PC
Страна-производитель ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)
Срок свидетельства (Или заводской номер) зав.№ I06066N20
Производитель / Заявитель

Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань

ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 6
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 4 (67%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 2 (33%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

71332-18: Описание типа СИ Скачать 119.6 КБ
71332-18: Методика поверки 437-151-2018МП Скачать 2 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Описание

Принцип действия микроскопа основан на оптическом визирном методе, при котором для нахождения координат точки или геометрического элемента необходимо совместить неподвижное перекрестие на экране монитора с изображением искомого элемента, проецируемого на экран монитора при помощи ПЗС-камеры.

Конструктивно микроскоп состоит из гранитного основания, подвижного предметного стола с измерительными шкалами, вертикальной колонки с оптической системой, персонального компьютера с программным обеспечением.

Перемещения подвижного предметного стола по осям X, Y соответствуют линейным размерам измеряемого объекта.

Конструкция микроскопа предусматривает грубое и точное перемещение подвижного предметного стола. Грубое перемещение осуществляется вручную. Точное перемещение осуществляется с помощью вращающихся рукояток, соответствующих осям X и Y. Для предотвращения грубого перемещения подвижный стол снабжен механическими фиксаторами для каждой оси.

Фокусировка оптической системы на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью вращающейся рукоятки на вертикальной колонке.

Микроскоп может работать в режиме отраженного и проходящего света. Осветитель для работы в режиме проходящего света расположен под подвижным предметным столом. Осветители для работы в отраженном свете расположены по окружности оптической системы.

В комплект поставки микроскопов входит калибровочный образец - стеклянная пластина с нанесенными на ней окружностями с известными значениями диаметров.

Рисунок 1 - Внешний вид микроскопа

Пломбирование микроскопа измерительного не предусмотрено.

Программное обеспечение

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения (ПО)

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

MSU3D-PRO

Номер версии (идентификационный номер) ПО

91.07.0003

Цифровой идентификатор ПО

-

Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «Средний» по Р 50.2.077-2014 для автономного программного обеспечения.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Диапазон измерений линейных размеров по осям X и Y, мм

От 0 до 200

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм

± (3+L/200), где L - измеренное значение длины в мм

Дискретность отсчета, мкм

0,5

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Напряжение переменного тока частотой 50 Гц, В

220

Максимальная высота измеряемой детали, мм

150

Максимальная масса измеряемой детали, кг

10

Габаритные размеры, мм, не более:

- длина

605

- ширина

727

- высота

950

Масса, кг, не более

133

Средний срок службы, лет, не менее

5

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °С

от +19 до +21

- изменение температуры воздуха в течение 1 часа работы, °С, не более

±0,25

- относительная влажность воздуха, %, не более

65

- амплитуда вибрации, мкм, не более

2,0

Знак утверждения типа

наносится на наружную сторону основания микроскопа методом наклейки.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средств измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп измерительный

CW-2020N-PC

1 шт.

Калибровочный образец

-

1 шт.

Упаковочный чехол

-

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

437-151-2018МП

1 экз.

Персональный компьютер

-

1 шт.

Поверка

осуществляется по документу 437-151-2018МП «Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC. Методика поверки», утвержденному ФБУ «Тест-С.-Петербург» 05.03.2018 г.

Основное средство поверки:

- мера длины штриховая 3 разряда по ГОСТ Р 8.763-2011.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационной документации.

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.763-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1х10-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

Другие Микроскопы

Микроскопы электронные растровые настольные модификаций EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа (все модифи...
74241-19
МВ и МВZ Микроскопы видеоизмерительные
ООО "Профноватор", г.Челябинск
Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и МВ2 (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...
Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микрорельефа и электроннозондового рентгеноспектрального каче...