Микроскоп измерительный CW-2020N-PC

Номер в ГРСИ РФ: 71332-18
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань

Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Скачать

71332-18: Описание типа СИ Скачать 119.6 КБ
71332-18: Методика поверки Скачать 2 MБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 71332-18
Наименование Микроскоп измерительный
Модель CW-2020N-PC
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)
Срок свидетельства (Или заводской номер) зав.№ I06066N20
Производитель / Заявитель

Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань

ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)


Назначение

Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Описание

Принцип действия микроскопа основан на оптическом визирном методе, при котором для нахождения координат точки или геометрического элемента необходимо совместить неподвижное перекрестие на экране монитора с изображением искомого элемента, проецируемого на экран монитора при помощи ПЗС-камеры.

Конструктивно микроскоп состоит из гранитного основания, подвижного предметного стола с измерительными шкалами, вертикальной колонки с оптической системой, персонального компьютера с программным обеспечением.

Перемещения подвижного предметного стола по осям X, Y соответствуют линейным размерам измеряемого объекта.

Конструкция микроскопа предусматривает грубое и точное перемещение подвижного предметного стола. Грубое перемещение осуществляется вручную. Точное перемещение осуществляется с помощью вращающихся рукояток, соответствующих осям X и Y. Для предотвращения грубого перемещения подвижный стол снабжен механическими фиксаторами для каждой оси.

Фокусировка оптической системы на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью вращающейся рукоятки на вертикальной колонке.

Микроскоп может работать в режиме отраженного и проходящего света. Осветитель для работы в режиме проходящего света расположен под подвижным предметным столом. Осветители для работы в отраженном свете расположены по окружности оптической системы.

В комплект поставки микроскопов входит калибровочный образец - стеклянная пластина с нанесенными на ней окружностями с известными значениями диаметров.

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

MSU3D-PRO

Номер версии (идентификационный номер) ПО

91.07.0003

Цифровой идентификатор ПО

-

Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «Средний» по Р 50.2.077-2014 для автономного программного обеспечения.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Диапазон измерений линейных размеров по осям X и Y, мм

От 0 до 200

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм

± (3+L/200), где L - измеренное значение длины в мм

Дискретность отсчета, мкм

0,5

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

характеристики

Напряжение переменного тока частотой 50 Гц, В

220

Максимальная высота измеряемой детали, мм

150

Максимальная масса измеряемой детали, кг

10

Габаритные размеры, мм, не более:

-    длина

-    ширина

-    высота

605

727

950

Масса, кг, не более

133

Средний срок службы, лет, не менее

5

Условия эксплуатации:

-    температура окружающего воздуха, °С

-    изменение температуры воздуха в течение 1 часа работы, °С, не более

-    относительная влажность воздуха, %, не более

-    амплитуда вибрации, мкм, не более

от +19 до +21 ±0,25 65 2,0

Знак утверждения типа

наносится на наружную сторону основания микроскопа методом наклейки. Комплектность средства измерений

Таблица 4 - Комплектность средств измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп измерительный

CW-2020N-PC

1 шт.

Калибровочный образец

-

1 шт.

Упаковочный чехол

-

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

437-151-2018МП

1 экз.

Персональный компьютер

-

1 шт.

Поверка

осуществляется по документу 437-151-2018МП «Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC. Методика поверки», утвержденному ФБУ «Тест-С.-Петербург» 05.03.2018 г. Основное средство поверки:

- мера длины штриховая 3 разряда по ГОСТ Р 8.763-2011.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационной документации.

Нормативные документы, устанавливающие требования к микроскопу измерительному модель CW-2020N-PC

ГОСТ Р 8.763-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1х10-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

Другие Микроскопы

70123-18
CW-2515N Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань
Микроскоп измерительный модель CW-2515N (далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.
69535-17
?Surf Микроскопы конфокальные
Фирма "NanoFocus AG", Германия
Микроскопы конфокальные pSurf (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий в области оптического производственного контроля.
69132-17
Garant серии MM-OS Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", Германия
Микроскопы видеоизмерительные Garant серии MM-OS (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, а также суспензий микро- и наночастиц, нанесенных на полимерную или углеродную...
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной моди...