Микроскопы
Микроскопы в госреестре
80322-20
Quattro S ESEM
Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe
Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
79845-20
Walter UHL
Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности т...
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
12129-20
ИМЦЛ 100x50, А
Микроскопы инструментальные
АО«НПЗ», РОССИЯ, 630049, г. Новосибирск, улица Дуси Ковальчук, д. 179/2
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100*50, А (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.
76632-19
LEXT OLS5000
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Фирма "OLYMPUS Corporation", ЯПОНИЯ
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
76481-19
Hitachi TM4000/TM4000Plus
Микроскопы сканирующие электронные с приставкой для энергодисперсионного микроанализа
Фирма "HITACHI High-Technologies Corporation", ЯПОНИЯ
Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микрорельефа и электроннозондового рентгеноспектрального каче...
75820-19
Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL
Микроскопы электронные растровые настольные
Фирма "Thermo Fisher Scientific", НИДЕРЛАНДЫ
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...