Микроскопы
Микроскопы в госреестре
Микроскоп измерительный металлургический ML-7000 (далее - микроскоп) предназначен для прецизионных измерений наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм.
81342-21
Quattro S
Микроскоп электронный сканирующий
"Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o.", ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S (далее - микроскоп Quattro S) предназначен для измерений линейных размеров, формы и ориентации наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов.
Микроскоп конфокальный лазерный сканирующий VL2000DX (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и обеспечения трехмерной визуализации поверхности твердотельных объектов.
81247-21
Talos F200
Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма Thermo Fisher Scientific, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллическо...
80322-20
Quattro S ESEM
Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe
Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
79845-20
Walter UHL
Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности т...
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
12129-20
ИМЦЛ 100x50, А
Микроскопы инструментальные
АО«НПЗ», РОССИЯ, 630049, г. Новосибирск, улица Дуси Ковальчук, д. 179/2
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100*50, А (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и полярных координатах.