Микроскопы
Микроскопы в госреестре
81247-21
Talos F200
Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма Thermo Fisher Scientific, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллическо...
80322-20
Quattro S ESEM
Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe
Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
79845-20
Walter UHL
Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности т...
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
12129-20
ИМЦЛ 100x50, А
Микроскопы инструментальные
АО«НПЗ», РОССИЯ, 630049, г. Новосибирск, улица Дуси Ковальчук, д. 179/2
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100*50, А (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.
76632-19
LEXT OLS5000
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Фирма "OLYMPUS Corporation", ЯПОНИЯ
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
76481-19
Hitachi TM4000/TM4000Plus
Микроскопы сканирующие электронные с приставкой для энергодисперсионного микроанализа
Фирма "HITACHI High-Technologies Corporation", ЯПОНИЯ
Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микрорельефа и электроннозондового рентгеноспектрального каче...