Микроскопы в госреестре РФ - Полный список оборудования

Микроскопы в ГРСИ РФ

Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...
Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
74241-19
МВ и МВZ Микроскопы видеоизмерительные
ООО "Профноватор", г.Челябинск
Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и МВ2 (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа (все модифи...
71332-18
CW-2020N-PC Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань
Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.
70123-18
CW-2515N Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань
Микроскоп измерительный модель CW-2515N (далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.
69535-17
?Surf Микроскопы конфокальные
Фирма "NanoFocus AG", Германия
Микроскопы конфокальные pSurf (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий в области оптического производственного контроля.
69132-17
Garant серии MM-OS Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", Германия
Микроскопы видеоизмерительные Garant серии MM-OS (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, а также суспензий микро- и наночастиц, нанесенных на полимерную или углеродную...
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной моди...