78538-20: STM7 Микроскопы измерительные оптические - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы измерительные оптические STM7

Номер в ГРСИ РФ: 78538-20
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Компания "Olympus NDT, Inc.", США
Скачать
78538-20: Описание типа СИ Скачать 97.5 КБ
78538-20: Методика поверки Скачать 3.9 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы измерительные оптические STM7 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 78538-20
Наименование Микроскопы измерительные оптические
Модель STM7
Страна-производитель ЯПОНИЯ
Срок свидетельства (Или заводской номер) 29.06.2025
Производитель / Заявитель

Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония

ЯПОНИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 5
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 5 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

78538-20: Описание типа СИ Скачать 97.5 КБ
78538-20: Методика поверки Скачать 3.9 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.

Описание

Микроскопы измерительные оптические STM7 (далее - микроскопы) выпускаются в модификациях STM7-SF, STM7-SFA, STM7-MF, STM7-MFA, STM7-LF, STM7-LFA. Принцип действия микроскопов основан на измерении перемещения предметного столика по осям Х и Y и блока фокусировки по оси Z (для линейных размеров в плоскости XY и по оси Z соответственно) измерительной системой микроскопа. При этом контроль перемещения по осям X, Y осуществляется визирным методом по изображению, полученному от исследуемого объекта. Перемещение по оси Z контролируется с помощью системы фокусировки, основанной на конфокальном методе.

Перемещения предметного столика и блока фокусировки осуществляется либо в ручном режиме (модификации STM7-SF, STM7-MF, STM7-LF), либо с помощью моторизованного привода (модификации STM7-SFA, STM7-MFA, STM7-LFA).

Микроскоп оснащен измерительными и металлографическими объективами и может работать в следующих режимах:

- в отраженном свете в режиме светлого поля;

- в отраженном свете в режиме темного поля;

- в отраженном свете в режиме дифференциально-интерференционного контраста (ДИК);

- в отраженном поляризованном свете.

Для работы в режиме отраженного света используется светодиод белого свечения, а в режиме проходящего света - светодиод зеленого свечения с длиной волны от 520 до 550 нм. В зависимости от решаемых задач, микроскоп может комплектоваться объективами с кратностью увеличения от 1х до 100х.

Микроскоп выполнен в настольном варианте и включает основной блок, состоящий из рамы, на которой расположены предметный столик, револьверная головка с моторизованным приводом с объективами, осветитель отраженного света, блок навигации системы фокусировки (либо блок автоматической фокусировки), окулярный тубус с окуляром, блок цифрового индикатора, цифровая камера. Отдельно расположенными являются блок питания, блок управления рамой, контроллер блока автоматической фокусировки, персональный компьютер с управляющей программой, которые соединены между собой и с основным блоком электрическими кабелями.

В зависимости от диапазона перемещения предметного столика, микроскопы поставляются в модификациях STM7-SF, STM7-SFA (рама малого размера), STM7-MF, STM7-MFA (рама среднего размера), STM7-LF, STM7-LFA (рама большого размера).

Модификации микроскопа с моторизованным приводом (имеющие букву «А» в обозначении) оснащены блоком автоматической фокусировки и контроллером блока автоматической фокусировки вместо блока навигации системы фокусировки и панели управления механизмом рамы с ручным приводом для модификаций STM7-SF, STM7-MF, STM7-LF.

Общий вид микроскопов модификаций STM7-SF (STM7-MF, STM7-LF) и модификаций STM7-SFA (STM7-MFA, STM7-LFA) представлен на рисунках 1 и 2 соответственно.

Пломбирование микроскопов не предусмотрено.

Место нанесения знака поверки ,

Рисунок 1 - Общий вид микроскопа измерительного оптического STM7-SF (STM7-MF, STM7-LF)

Место нанесения знака поверки \

Рисунок 2 - Общий вид микроскопа измерительного оптического STM7-SFA (STM7-MFA, STM7-LFA)

Программное обеспечение

Управление микроскопом и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «STM7-BSW». ПО «STM7-BSW» позволяет проводить измерения линейных размеров элементов рельефа по осям X, Y Z. ПО «STM7-BSW» не может быть использовано отдельно от микроскопа.

Идентификационные данные программного обеспечения указаны в таблице 1.

Таблица 1

Идентификационное наименование ПО

STM7-BSW

Номер версии (идентификационный номер) ПО

1.3.2 или выше

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

-

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

-

Уровень защиты ПО соответствует типу «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические ха

рактеристики

Наименование характеристики

Модификация микроскопа

STM7-SF, STM7-SFA,

STM7-MF, STM7-MFA

STM7-LF, STM7-LFA

Диапазон измерений линейных размеров, мм ось Х, Y

ось Z:

- измерительный объектив

- металлографический объектив

от 0,0005 до 50 (предметный столик STM7-CS50)

от 0,0005 до 100

(предметный столик STM7-CS100)

от 0,0005 до 120

от 0,0005 до 175

от 0,0005 до 200

от 0,0005 до 120

от 0,0005 до 175

от 0,0005 до 250

от 0,0005 до 90

от 0,0005 до 145

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм (L - измеряемая длина, мм) ось X, Y ось Z

±(1,5+L/50)

±(3+L/10)

±(1,5+L/50) ±(3+L/10)

±(1,5+L/50) ±(3+L/10)

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Модификация микроскопа

STM7-SF, STM7-SFA,

STM7-MF, STM7-MFA

STM7-LF, STM7-LFA

Дискретность отсчета, мкм

0,1

0,1

0,1

Допустимая масса образца, кг, не более

5

10

15

Габаритные размеры основного блока (ДхШхВ), мм, не более

466x583x811

606x762x811

804x1024x844

Масса, кг, не более

92

159

284

Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50/60 Гц, В

220-240

Потребляемая мощность, Вт, не более

80

Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С -относительная влажность воздуха, %

от +18 до +22

от 55 до 75

Знак утверждения типа

наносится на лицевую панель рамы микроскопа в виде наклейки, и на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп измерительный оптический*

Модификация STM7-SF, STM7-SFA, STM7-MF, STM7-MFA, STM7-LF или STM7-LFA

1 шт.

Объективы*

Измерительные ММ6-ОВ, металлографические MPLFLN, MPLFLN-BD, LMPLFLN или LMPLFLN-BD серии

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

-

1 экз.

- конфигурация по согласованию с заказчиком.

Поверка

осуществляется по документу МП 78538-20 «Микроскопы измерительные оптические STM7.

Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 08 июня 2019 г.

Основные средства поверки:

- меры длины концевые плоскопараллельные 3-го разряда согласно Государственной поверочной схеме (Приказ Росстандарта от 29.12.2018 №2840), набор №1 (рег. №35954-07);

- мера длины штриховая типа ИБ по ГОСТ 12069-90 (диапазон измерений 0-200 мм, класс точности 1 по ГОСТ 12069-90);

- мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (рег. №33598-06).

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемого микроскопа с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на лицевую панель основного блока микроскопа в виде наклейки, как показано на рисунках 1 и 2 и на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационной документации.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя.

Другие Микроскопы

Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности т...
79845-20
Walter UHL Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
80322-20
Quattro S ESEM Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...
12129-20
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100×50, А
Акционерное общество "Новосибирский приборостроительный завод" (АО "НПЗ"), г. Новосибирск
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100x50, А (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и полярных координатах.