Микроскопы измерительные оптические STM7
| Номер в ГРСИ РФ: | 78538-20 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Компания "Olympus NDT, Inc.", США |
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 78538-20 |
| Наименование | Микроскопы измерительные оптические |
| Модель | STM7 |
| Страна-производитель | ЯПОНИЯ |
| Срок свидетельства (Или заводской номер) | 29.06.2025 |
Производитель / Заявитель
Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония
ЯПОНИЯ
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 5 |
| Найдено поверителей | 2 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 5 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Скачать
| 78538-20: Описание типа СИ | Скачать | 97.5 КБ | |
| 78538-20: Методика поверки | Скачать | 3.9 MБ |
Описание типа
Назначение
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
Описание
Микроскопы измерительные оптические STM7 (далее - микроскопы) выпускаются в модификациях STM7-SF, STM7-SFA, STM7-MF, STM7-MFA, STM7-LF, STM7-LFA. Принцип действия микроскопов основан на измерении перемещения предметного столика по осям Х и Y и блока фокусировки по оси Z (для линейных размеров в плоскости XY и по оси Z соответственно) измерительной системой микроскопа. При этом контроль перемещения по осям X, Y осуществляется визирным методом по изображению, полученному от исследуемого объекта. Перемещение по оси Z контролируется с помощью системы фокусировки, основанной на конфокальном методе.
Перемещения предметного столика и блока фокусировки осуществляется либо в ручном режиме (модификации STM7-SF, STM7-MF, STM7-LF), либо с помощью моторизованного привода (модификации STM7-SFA, STM7-MFA, STM7-LFA).
Микроскоп оснащен измерительными и металлографическими объективами и может работать в следующих режимах:
- в отраженном свете в режиме светлого поля;
- в отраженном свете в режиме темного поля;
- в отраженном свете в режиме дифференциально-интерференционного контраста (ДИК);
- в отраженном поляризованном свете.
Для работы в режиме отраженного света используется светодиод белого свечения, а в режиме проходящего света - светодиод зеленого свечения с длиной волны от 520 до 550 нм. В зависимости от решаемых задач, микроскоп может комплектоваться объективами с кратностью увеличения от 1х до 100х.
Микроскоп выполнен в настольном варианте и включает основной блок, состоящий из рамы, на которой расположены предметный столик, револьверная головка с моторизованным приводом с объективами, осветитель отраженного света, блок навигации системы фокусировки (либо блок автоматической фокусировки), окулярный тубус с окуляром, блок цифрового индикатора, цифровая камера. Отдельно расположенными являются блок питания, блок управления рамой, контроллер блока автоматической фокусировки, персональный компьютер с управляющей программой, которые соединены между собой и с основным блоком электрическими кабелями.
В зависимости от диапазона перемещения предметного столика, микроскопы поставляются в модификациях STM7-SF, STM7-SFA (рама малого размера), STM7-MF, STM7-MFA (рама среднего размера), STM7-LF, STM7-LFA (рама большого размера).
Модификации микроскопа с моторизованным приводом (имеющие букву «А» в обозначении) оснащены блоком автоматической фокусировки и контроллером блока автоматической фокусировки вместо блока навигации системы фокусировки и панели управления механизмом рамы с ручным приводом для модификаций STM7-SF, STM7-MF, STM7-LF.
Общий вид микроскопов модификаций STM7-SF (STM7-MF, STM7-LF) и модификаций STM7-SFA (STM7-MFA, STM7-LFA) представлен на рисунках 1 и 2 соответственно.
Пломбирование микроскопов не предусмотрено.
Место нанесения знака поверки ,
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа измерительного оптического STM7-SF (STM7-MF, STM7-LF)
Место нанесения знака поверки \
Рисунок 2 - Общий вид микроскопа измерительного оптического STM7-SFA (STM7-MFA, STM7-LFA)
Программное обеспечение
Управление микроскопом и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «STM7-BSW». ПО «STM7-BSW» позволяет проводить измерения линейных размеров элементов рельефа по осям X, Y Z. ПО «STM7-BSW» не может быть использовано отдельно от микроскопа.
Идентификационные данные программного обеспечения указаны в таблице 1.
Таблица 1
|
Идентификационное наименование ПО |
STM7-BSW |
|
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
1.3.2 или выше |
|
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
- |
|
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
- |
Уровень защиты ПО соответствует типу «средний» согласно Р 50.2.077-2014.
Технические характеристики
|
Таблица 2 - Метрологические ха |
рактеристики | ||
|
Наименование характеристики |
Модификация микроскопа | ||
|
STM7-SF, STM7-SFA, |
STM7-MF, STM7-MFA |
STM7-LF, STM7-LFA | |
|
Диапазон измерений линейных размеров, мм ось Х, Y ось Z: - измерительный объектив - металлографический объектив |
от 0,0005 до 50 (предметный столик STM7-CS50) от 0,0005 до 100 (предметный столик STM7-CS100) от 0,0005 до 120 от 0,0005 до 175 |
от 0,0005 до 200 от 0,0005 до 120 от 0,0005 до 175 |
от 0,0005 до 250 от 0,0005 до 90 от 0,0005 до 145 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм (L - измеряемая длина, мм) ось X, Y ось Z |
±(1,5+L/50) ±(3+L/10) |
±(1,5+L/50) ±(3+L/10) |
±(1,5+L/50) ±(3+L/10) |
Таблица 3 - Основные технические характеристики
|
Наименование характеристики |
Модификация микроскопа | ||
|
STM7-SF, STM7-SFA, |
STM7-MF, STM7-MFA |
STM7-LF, STM7-LFA | |
|
Дискретность отсчета, мкм |
0,1 |
0,1 |
0,1 |
|
Допустимая масса образца, кг, не более |
5 |
10 |
15 |
|
Габаритные размеры основного блока (ДхШхВ), мм, не более |
466x583x811 |
606x762x811 |
804x1024x844 |
|
Масса, кг, не более |
92 |
159 |
284 |
|
Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50/60 Гц, В |
220-240 | ||
|
Потребляемая мощность, Вт, не более |
80 | ||
|
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С -относительная влажность воздуха, % |
от +18 до +22 от 55 до 75 | ||
Знак утверждения типа
наносится на лицевую панель рамы микроскопа в виде наклейки, и на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.
Комплектность
Таблица 4 - Комплектность средства измерений
|
Наименование |
Обозначение |
Количество |
|
Микроскоп измерительный оптический* |
Модификация STM7-SF, STM7-SFA, STM7-MF, STM7-MFA, STM7-LF или STM7-LFA |
1 шт. |
|
Объективы* |
Измерительные ММ6-ОВ, металлографические MPLFLN, MPLFLN-BD, LMPLFLN или LMPLFLN-BD серии |
1 шт. |
|
Руководство по эксплуатации |
- |
1 экз. |
|
Методика поверки |
- |
1 экз. |
- конфигурация по согласованию с заказчиком.
Поверка
осуществляется по документу МП 78538-20 «Микроскопы измерительные оптические STM7.
Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 08 июня 2019 г.
Основные средства поверки:
- меры длины концевые плоскопараллельные 3-го разряда согласно Государственной поверочной схеме (Приказ Росстандарта от 29.12.2018 №2840), набор №1 (рег. №35954-07);
- мера длины штриховая типа ИБ по ГОСТ 12069-90 (диапазон измерений 0-200 мм, класс точности 1 по ГОСТ 12069-90);
- мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (рег. №33598-06).
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемого микроскопа с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на лицевую панель основного блока микроскопа в виде наклейки, как показано на рисунках 1 и 2 и на свидетельство о поверке.
Сведения о методах измерений
приведены в эксплуатационной документации.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы-изготовителя.
Другие Микроскопы
