Компания "Olympus NDT, Inc.", США
Статистика
Приборы в Госреестре РФ 35
96307-25
LEXT OLS4100-SAF
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
OLYMPUS Corporation, ЯПОНИЯ, Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.
87161-22
LEXT OLS5100
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные
Фирма OLYMPUS Corporation, Япония
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5100 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
86662-22
OmniScan MX ECA
Дефектоскопы вихретоковые
Компания "Olympus NDT Canada Incorporated", Канада
Дефектоскопы вихретоковые OmniScan MX ECA (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для обнаружения и измерения глубины поверхностных дефектов в деталях и заготовках из металлов и токопроводящих материалов.
78932-20
OLYMPUS IPLEX GX, IPLEX G Lite
Видеоэндоскопы измерительные
Фирма "Olympus Corporation (Industrial Business Division)", Япония
Видеоэндоскопы измерительные OLYMPUS IPLEX GX, IPLEX G Lite (далее - видеоэндоскопы) предназначены для измерений линейных размеров дефектов и их глубины в труднодоступных местах и скрытых полостях.
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.