Микроскопы
Микроскопы в госреестре
67009-17
Nova NanoSEM 450
Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов
Фирма "FEI Czech Republic s.r.o.", ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА
Микроскоп электронный растровый Nova NanoSEM 450, с системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов, предназначен для измерений линейных размеров элементов...
67005-17
EVO 18
Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", СОЕДИНЕННОЕ КОРОЛЕВСТВО
Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
66282-16
Venture мод. 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и Venture Plus мод. VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540
Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "Baty International Limited", СОЕДИНЕННОЕ КОРОЛЕВСТВО
Микроскопы видеоизмерительные серии Venture модификации 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и серии Venture Plus модификации VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540 (далее -микроскопы) предназначены для измерений бесконтактным и контактным методом двухмерн...
66097-16
Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX
ИК-фурье микроскопы
Фирма "Thermo Fisher Scientific", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
ИК-фурье микроскопы моделей Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX (далее по тексту -приборы) предназначены для измерения содержания различных органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах, продуктах питания, почвах, волокнах...
Микроскопы измерительные Nikon MM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.
64047-16
SOLVER NEXT, TITANIUM
Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "Научно-техническая компания" (НТК), РОССИЯ, г.Химки
Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUM (далее C3M) предназначены для измерений геометрических параметров микрорельефа поверхности твёрдых тел.
63408-16
МИМ-340
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами
АО "ПО "Уральский оптико-механический завод им.Э.С.Яламова" (УОМЗ), РОССИЯ, г.Екатеринбург
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340 (далее по тексту - микроскопы МИМ), предназначены для трехмерного анализа рельефа отражающей поверхности в микро- и нанодиапазоне, создания графических изображений и их цифрового ан...
Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердых структур.
62841-15
SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M
Микроскопы сканирующие электронные
Компания "SEC Co., Ltd.", Корея
Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.