Микроскопы
Микроскопы в госреестре
69132-17
Garant серии MM-OS
Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", ГЕРМАНИЯ
Микроскопы видеоизмерительные Garant серии MM-OS (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, а также суспензий микро- и наночастиц, нанесенных на полимерную или углеродную...
69048-17
Helios NanoLab 650
Микроскоп электронно-ионный растровый
Фирма "FEI Ltd.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной моди...
67838-17
Keysight 5600LS
Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Keysight Technologies Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Микроскоп атомно-силовой Keysight 5600LS (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50, (далее - микроскоп Inspect S50) предназначен для измерений линейных размеров, формы, ориентации и других параметров наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов.
Микроскопы видеоизмерительные MarVision серии QM 300 (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные серии ВМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных деталей.
67119-17
MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC
Микроскопы измерительные
Фирма "Mahr GmbH", ГЕРМАНИЯ
Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
67009-17
Nova NanoSEM 450
Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов
Фирма "FEI Czech Republic s.r.o.", ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА
Микроскоп электронный растровый Nova NanoSEM 450, с системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов, предназначен для измерений линейных размеров элементов...
67005-17
EVO 18
Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", СОЕДИНЕННОЕ КОРОЛЕВСТВО
Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.