Микроскопы в госреестре

Микроскоп измерительный модель CW-2515N (далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Микроскопы конфокальные pSurf (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий в области оптического производственного контроля.

Микроскопы видеоизмерительные Garant серии MM-OS (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, а также суспензий микро- и наночастиц, нанесенных на полимерную или углеродную...

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной моди...

Микроскоп атомно-силовой Keysight 5600LS (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50, (далее - микроскоп Inspect S50) предназначен для измерений линейных размеров, формы, ориентации и других параметров наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов.

Микроскопы видеоизмерительные MarVision серии QM 300 (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.

Микроскопы видеоизмерительные серии ВМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных деталей.

Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.