Микроскопы
Микроскопы в ГРСИ РФ
62841-15
SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M Микроскопы сканирующие электронные
Компания "SEC Co., Ltd.", Корея
Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
62701-15
Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 Микроскопы световые инвертированные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", Германия
Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных стру...
62122-15
Verios 460 XНR SEM Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов
Фирма "FEI Company", США
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-во...
61516-15
MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
60731-15
JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) Микроскопы электронные растровые
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотел...
60728-15
JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) Микроскопы электронные растровые
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (модификации JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического...
60084-15
Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды
Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров объектов.
59636-15
SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы измерительные серии 176 (далее - микроскопы) предназначены для оптического измерения линейных размеров деталей.
Микроскопы измерительные XPress (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей с автоматической регистрацией результатов измерений в цифровой и графической формах.