76902-19: VEGA (ВЕГА) Микроскопы сканирующие зондовые - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА)

Номер в ГРСИ РФ: 76902-19
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ООО "НТ-МДТ", г.Москва
Скачать
76902-19: Описание типа СИ Скачать 85.3 КБ
76902-19: Методика поверки МП №203-46-2019 Скачать 2.8 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 76902-19
Наименование Микроскопы сканирующие зондовые
Модель VEGA (ВЕГА)
Страна-производитель РОССИЯ
Срок свидетельства (Или заводской номер) 10.12.2024
Производитель / Заявитель

ООО "НТ-МДТ", г.Москва

РОССИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 4
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 4 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

76902-19: Описание типа СИ Скачать 85.3 КБ
76902-19: Методика поверки МП №203-46-2019 Скачать 2.8 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.

Описание

СЗМ работают в режиме атомно-силового микроскопа (ACM). Принцип действия в СЗМ реализуется посредством детектирования силы, действующей на острие микрозонда со стороны исследуемой поверхности. Поддерживая с помощью системы обратной связи в процессе сканирования постоянную силу взаимодействия между микрозондом и поверхностью образца, регистрируют положение острия микрозонда, что позволяет получить трехмерное изображение топографии поверхности по которому можно определить линейные размеры измеряемых элементов.

В качестве микрозонда в режиме ACM используется чувствительный элемент, представляющий собой кремниевое микромеханическое изделие, на котором сформирован кантилевер с острием в виде микроиглы.

СЗМ состоят из следующих основных элементов: СЗМ-контроллер, базовый блок, персональный компьютер. Базовый блок представляет собой отдельно стоящую установку, которая обеспечивает защиту от воздействий окружающей среды: защиту от виброакустических воздействий, от изменений температуры и влажности. В базовом блоке расположен держатель образца, который обеспечивает его перемещение в заданном диапазоне и устройство, которое производит сканирование исследуемого объекта. СЗМ-контроллер предназначен для управления базовым блоком и обработки сигналов, полученных в результате проводимых измерений исследуемого образца. Персональный компьютер требуется для обеспечения управления пользователем данным программно-аппаратным комплексом и анализом результатов измерений.

Конструктивно СЗМ выполнены в виде отдельно стоящего базового блока с отдельно устанавливаемым компьютером. По заказу СЗМ могут оснащаться рядом дополнительных устройств и принадлежностей. Внешний вид микроскопов сканирующих зондовых VEGA (ВЕГА) представлен на рисунке 1.

Пломбирование микроскопов сканирующих зондовых VEGA (ВЕГА) от несанкционированного доступа не предусмотрено.

Рисунок 1 - Внешний вид микроскопов сканирующих зондовых VEGA (ВЕГА)

Программное обеспечение

Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) имеют в своем составе программное обеспечение (ПО), встроенное в аппаратное устройство операторского персонального компьютера, разработанное для конкретных измерительных задач, осуществляющее измерительные функции, функции получения и передачи измерительной информации.

Программное обеспечение «Nova Рх» является специализированным ПО СЗМ и предназначено для их управления, составления измерительных программ и обработки результатов измерений. ПО «Nova Рх» не может быть использовано отдельно от СЗМ.

Конструкция СИ исключает возможность несанкционированного влияния на ПО СИ и измерительную информацию. Метрологически значимая часть ПО СЗМ и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты от преднамеренных изменений.

Главной защитой ПО является USB-ключ-заглушка. HASP (программа, направленная на борьбу с нарушением авторских прав) использует 128-битное шифрование по алгоритму AES (симметричный алгоритм блочного шифрования информации), что позволяет предотвратить неавторизованное использование ПО.

Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные (признаки) метрологически значимой части ПО указаны в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

Nova Рх

Номер версии (идентификационный номер) ПО

не ниже 3.5.0.x

Цифровой идентификатор ПО

039acc50cc451aa329d2c7feafd52dc0 (SXYCalibration.dll);

065a740c438d7e39d816edf37fe03a8e -(SZCalibration.dll);

eafcb01229f0ea7928492fad37dbb738 -(SNonlinearity.dll);

1ad4447861d157a0f6e42098d20b302d -SInterferometerAngle.dll.

Технические характеристики

Т аблица 2 - Метрологические характеристики_____

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY, мкм

от 0,01 до 90

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY, нм*

± (3+0,01 xL), где L - измеряемое значение длины в нм

Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм

от 0,0005 до 9

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси сканирования Z, нм*

± (4+0,05 xL), где L - измеряемое значение длины в нм

Примечание: * - при температуре воздуха от плюс 18 °С до плюс 22 °С.

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Разрешение в плоскости XY с датчиками обратной связи не более, нм

0,3

Разрешение по оси Z не более, нм

0,1

Максимальное число точек сканирования по X и Y, не менее

4000 x4000

Размеры исследуемых образцов (длина x ширина x толщина), не более, мм

200 x 200 x 40

Диапазон позиционирования образца в плоскости XY, не менее, мм

200 x 200

Потребляемая мощность, не более, ВА

400

Габаритные размеры СЗМ контроллера, не более, мм

600 x 550 x 600

Габаритные размеры базового блока, не более, мм

810 x 610 x 1450

Масса СЗМ контроллера, не более, кг

45

Масса базового блока, не более, кг

350

Таблица 4 - Условия эксплуатации

Температура окружающей среды, °C

от +15 до +25

Относительная влажность воздуха, %

от 50 до 80

Напряжение переменного тока, В

от 95 до 121/ от 187 до 242

Частота, Гц

50/60

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом

Комплектность

Таблица 5 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

СЗМ контроллер

-

1 шт.

Базовый блок

VEGA

1 шт.

Персональный компьютер

-

1 шт.

Руководство по эксплуатации

Микроскопы     сканирующие

зондовые VEGA (ВЕГА)

1 экз.

Программное обеспечение на цифровом носителе

Nova Px

1 шт.

Методика поверки

МП № 203-46-2019

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу МП № 203-46-2019 «Микроскопы сканирующие зондовые VEGA

(ВЕГА). Методика поверки», утвержденным ФГУП «ВНИИМС» 19 августа 2019 г.

Основные средства поверки:

- мера периода и высоты линейная TGZ1, рег № 41678-09;

- мера периода и высоты линейная TGZ3, рег. № 41678-09.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых средств измерений с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационных документах.

Нормативные документы

ТУ 26.51.61-005-17510633-2019 Микроскопы сканирующие зондовые ВЕГА (VEGA).

Технические условия

Другие Микроскопы

78538-20
STM7 Микроскопы измерительные оптические
Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония
Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных объектов.
Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности т...
79845-20
Walter UHL Микроскопы измерительные
Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия
Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
80056-20
Helios G4 PFIB Uxe Микроскоп электронно-ионный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...
80322-20
Quattro S ESEM Микроскоп электронный сканирующий
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...