87607-22: MarSurf CM Микроскопы конфокальные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы конфокальные MarSurf CM

Номер в ГРСИ РФ: 87607-22
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Mahr GmbH", Германия
Скачать
87607-22: Описание типа СИ Скачать 628.4 КБ
87607-22: Методика поверки Скачать 4.7 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы конфокальные MarSurf CM поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы конфокальные MarSurf CM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 87607-22
Наименование Микроскопы конфокальные
Модель MarSurf CM
Срок свидетельства (Или заводской номер) 12.12.2027
Производитель / Заявитель

Mahr GmbH, Германия

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

87607-22: Описание типа СИ Скачать 628.4 КБ
87607-22: Методика поверки Скачать 4.7 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы конфокальные MarSurf CM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий.

Описание

Микроскопы конфокальные MarSurf CM относятся к классу бесконтактных оптических приборов, принцип действия которых основан на смещении конфокальной плоскости освещения.

Метод конфокальной микроскопии основан на размещении в плоскости измерения апертуры, дающей возможность получения максимального контраста изображения при нахождении измеряемого участка поверхности в фокусе.

Конструктивно микроскопы состоят из конфокальной измерительной головки со встроенным регулятором освещенности, состоящей из конфокального микроскопа с источником света, в нижней части находится объектив и пьезо-привод, в верхней части ПЗС-камера, контроллер прецизионного измерительного стола, массивной гранитной плиты, светодиодный источник света, объективов, джойстика, компьютера с операционной системой Windows, соединительных кабелей.

Микроскопы могут оснащаться объективами с увеличениями x5, x10, x20, x50 и x100 крат.

Микроскопы выпускаются в четырёх модификациях: explorer, expert, select, mobile, различающихся техническим характеристиками. Для модификаций explorer и expert характерно наличие гранитной стойки в виброизолированном исполнении, имеющей форму L-образного штатива. Модификация select выполнена в исполнении, имеющем П-образный гранитный штатив. Модификация mobile имеет переносной вид стойки и не оснащается гранитной плитой. Микроскопы оснащаются двумя видами ПЗС-камер: цветной (обозначение - color) и черно-белой (обозначение - b/w).

Результаты сканирования поверхности передаются на внешний компьютер. Управление микроскопом осуществляется с помощью внешнего компьютера с программным обеспечением, позволяющим проводить настройку прибора и контроль процесса измерений, осуществлять сбор экспериментальных данных, обрабатывать и сохранять полученные результаты.

Опломбирование микроскопов от несанкционированного доступа не предусмотрено. Заводской номер нанесен на корпус в виде этикетки (шильдика) и имеет цифровое обозначение. Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

(а)

(б)

(в)

Рисунок 1- Внешний микроскопов модификаций: а) explorer, б) expert, в) select, г) mobile.

(г)

Программное обеспечение

Программное обеспечение (ПО) «MarSurf MSW» и «MarSurf MFM» является специализированным ПО микроскопов и предназначено для управления механическими частями, для непосредственного измерения, для обработки полученных результатов, построения трехмерных изображений рельефа поверхности, выделения отдельных профилей поверхности в заданном направлении и гистограммы распределения пиков по высоте, а также позволяет рассчитывать параметры шероховатости .

Конструкция СИ исключает возможность несанкционированного влияния на ПО СИ и измерительную информацию. Метрологически значимая часть ПО систем и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты от преднамеренных изменений.

Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные программного обеспечения (ПО) приведены в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения.

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

MarSurf MSW

MarSurf MFM

Номер версии (идентификационный номер) ПО

v. 8.2.2.28469 и выше

v. 9.0 и выше

Цифровой идентификатор ПО

-

-

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики микроскопов

Наименование характеристики

Значение

Увеличение

Юх

2 Ох

2 Ох

2 Ох

Модель объектива

3200S

1600S

800L

800S

800XS

Диапазон      измерений

линейных размеров по осям X и Y, мкм

от 2,67 до 3200

от 1,33 до 1600

от 0,67 до 800

от 0,67 до 800

от 0,67 до 800

Пределы     допускаемой

абсолютной погрешности измерений      линейных

размеров по осям X и Y, мкм

±(6+1750), где L измеряемая величина в мкм

±(3+1750), где L измеряемая величина в мкм

±(2,2+1750), где L измеряемая величина в мкм

Диапазон      измерений

линейных размеров по оси

Z, мкм

-

от 1 до 9000

от 1 до 9000

от 0,2 до 3000

от 0,1 до 900

Пределы     допускаемой

абсолютной погрешности измерений      линейных

размеров по оси Z, мкм

±(0,088+4-17100), где L - измеряемая величина в мкм

±(0,05+4-17100), где L - измеряемая величина в мкм

±(0,04+3-L/100), где L - измеряемая величина в мкм

±(0,026+3-L/100), где L - измеряемая величина в мкм

Диапазон      измерений

шероховатости         по

параметру Ra, мкм

-

от 1 до 10

от 1 до 5

от 0,2 до 5

от 0,1 до 5

Пределы     допускаемой

абсолютной погрешности измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

-

±(0,08+4-17100), где L измеряемая величина в мкм

±(0,04+4-17100), где L измеряемая величина в мкм

±(0,025+3-L/100), где L измеряемая величина в мкм

±(0,008+3-L/100), где L измеряемая величина в мкм

Продолжение таблицы 2

Наименование характеристики

Значение

Увеличение

5 Ох

5 Ох

5 Ох

ЮОх

ЮОх

ЮОх

Модель объектива

320L

320S

320XS

160L

160S

160XS

Диапазон      измерений

линейных размеров по осям X и Y, мкм

от 0,36 до 320

от 0,36 до 320

от 0,36 до 320

от 0,32 до 160

от 0,32 до 160

от 0,32 до 160

Пределы     допускаемой

абсолютной погрешности измерений      линейных

размеров по осям X и Y, мкм

±(1,5±1750), где L - измеряемая величина в мкм

±(1,1±1750), где L - измеряемая величина в мкм

Диапазон      измерений

линейных размеров по оси

Z, мкм

от 0,1 до 9000

от 0,05 до 900

от 0,01 до 250

от 0,05 до 3000

от 0,01 до 900

от 0,01 до 250

Пределы     допускаемой

абсолютной погрешности измерений      линейных

размеров по оси Z, мкм

±(0,026+4-17100) , где L -измеряемая величина в мкм

±(0,022+3-L/100) , где L -измеряемая величина в мкм

±(0,022+3-L/100) , где L -измеряемая величина в мкм

±(0,022+3-L/100) , где L -измеряемая величина в мкм

±(0,011+3-L/100), где L -измеряемая величина в мкм

±(0,011 ±3-17100), где L -измеряемая величина в мкм

Диапазон      измерений

шероховатости         по

параметру Ra, мкм

от 0,1 до 2

от 0,05 до 2

от 0,01 до 2

от 0,05 до 1

от 0,01 до 1

от 0,01 до 1

Пределы     допускаемой

абсолютной погрешности измерений шероховатости по параметру Ra, мкм

±(0,01+4-17100), где L-измеряемая величина в мкм

±(0,002+3-17100), где L-измеряемая величина в мкм

±(0,001+3-17100), где L -измеряемая величина в мкм

±(0,002+3-L/100), где L-измеряемая величина в мкм

±(0,001 ±3-17100), где L -измеряемая величина в мкм

±(0,001 ±3-17100), где L -

измеряемая величина в мкм

Таблица 3 - Технические характеристики микроскопов

Наименование характеристики

Значение характеристики

explorer

expert

select

mobile

Габаритные размеры, мм, не более

- длина

- ширина

- высота

383

290

690

526

378

799

900

750

1614

417

136

234

Масса, кг, не более

25

50

300

9

Условия эксплуатации

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность, %

от +18 до +22

до 80

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средств измерений

Наименование

Количество

Обозначение

Микроскоп конфокальный

1 шт.

MarSurf CM

Объективы*

3200S, 1600S, 800L, 800S, 800XS, 320L, 320S, 320XS, 160L, 160S, 160XS

Персональный компьютер

1 шт.

-

Монитор

1 шт.

-

Руководство по эксплуатации

1 экз.

-

* Количество и модели объективов определяются при заказе микроскопа и указываются в руководстве по эксплуатации.

Сведения о методах измерений

приведены в разделе «Выполнение измерений» или «Измерение с использованием MarSurf CM» руководств по эксплуатации.

Нормативные документы

Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 6 ноября 2019 г. № 2657 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 12000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм»;

Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 29 декабря 2018 г. № 2840 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений длины в диапазоне от 1-10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»;

Техническая документация изготовителя.

Другие Микроскопы

88308-23
Jaten Микроскопы видеоизмерительные
Donguan Jaten Instrument Co., Ltd., Китай
Микроскопы видеоизмерительные Jaten (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Default ALL-Pribors Device Photo
599-81
УМИ-1 Микроскопы унифицированные инструментальные
Новосибирский приборостроительный завод имени В. И. Ленина, г. Новосибирск
Default ALL-Pribors Device Photo
599-72
ММИ-2 Микроскоп малый инструментальный
Новосибирский приборостроительный завод имени В. И. Ленина, г. Новосибирск
89837-23
ИМ Микроскопы измерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Профноватор" (ООО "Профноватор"), г. Челябинск
Микроскопы измерительные ИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные портальные TZTEK VMG (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.