97683-26: ADF Микроскопы видеоизмерительные консольные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF

Номер в ГРСИ РФ: 97683-26
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ООО «Д-МИКРО», РОССИЯ, Московская область, г. Химки
Скачать
97683-26: Описание типа
2026-97683-26.pdf
Скачать 207.3 КБ
97683-26: Методика поверки МП-934-2025
2026-mp97683-26.pdf
Скачать 2.8 MБ
Нет данных о поставщике
Поверка
Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров объектов в проходящем и отраженном свете.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 97683-26
Действует по 12.02.2031
Наименование Микроскопы видеоизмерительные консольные
Модель ADF
Модификации ADF ММ
включают в себя типоразмеры: 212, 322, 432
ADF SA
включают в себя типоразмеры: 212, 322, 432
ADF EA
включают в себя типоразмеры: 322, 432
ADF FA
включают в себя типоразмеры: 322, 432, 542, 652
ADF SS
включает в себя типоразмер: 09061
Каждая модификация может иметь следующие исполнения в соответствии со структурным обозначением:
ADF XX-ABC-Y…, где:
XX – буквенное обозначение модификации (ММ, SA, EA, FA, SS)
ABC – числовое обозначение верхних пределов диапазонов измерений по осям где: А – диапазон измерения по оси Х, В – диапазон измерения по оси Y, С – диапазон измерения по оси Z. Обозначается первыми цифрами из диапазонов измерений системы от 1 до 6, где 1 – до 100 мм, 2 – до 200 мм и т.д. (для модификации SS X: 06 – до 60мм, Y: 09 – до 90 мм, обозначение по оси Z аналогично остальным модификациям). Диапазон измерений до 200 мм по оси Z является стандартным и допускается заменять на ноль
Y – буквенное обозначение исполнений контроля размеров и дополнительных комплектующих где:
S1, S2, S3 – исполнение с оптической подсистемой увеличением 0,7-4,5 крат с камерами различного типа (S1-цифровая камера, S2-аналогавая камера, S3-цифровая камера высоко разрешения)
T – исполнение с телецентрической оптикой
P – исполнение с контактным щупом Renishaw MCP или ADF TP
L – исполнение с лазерным датчиком Keyence CL или ADF LP
I – исполнение с расширенным функционалом
на испытании представлены
ADF ММ-322-P
ADF FA-432-S3PTL
Приказы
244 от 12.02.2026 — Об утверждении типов средств измерений
Код идентификации производства ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории РФ в соответствии с постановлением №719
Характер производства Серийное
Идентификатор записи ФИФ ОЕИ d8cf996f-5ae3-e5fd-54ad-c327d80c26d6
Испытания
Дата Модель Заводской номер
15.08.2025 ADF ММ-322-P 346800
15.08.2025 ADF FA-432-S3PTL 250101
Производитель / Заявитель

ООО «Д-МИКРО», РОССИЯ, 141402, Московская область, г. Химки, ул. Ленинградская, д. 1, корп. д, офис 312

Поверка

Методика поверки / информация о поверке
МП-934-2025 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF. Методика поверки. (с 12.02.2026)
Межповерочный интервал / Периодичность поверки
1 год
Зарегистрировано поверок
Найти результаты поверки
Указан в паспорте или на самом приборе

Поверители

КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг
Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Скачать

97683-26: Описание типа
2026-97683-26.pdf
Скачать 207.3 КБ
97683-26: Методика поверки МП-934-2025
2026-mp97683-26.pdf
Скачать 2.8 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров объектов в проходящем и отраженном свете.

Описание

Основными элементами конструкции приборов являются металлическое основание, на которое установлены подвижный предметный стол с нижним осветителем вертикальная колонна с подвижной оптической системой, включающей в себя измерительный блок и верхний осветитель.

Принцип действия приборов основан на считывании с электронных измерительных шкал осей X, Y значений перемещений подвижного предметного стола, и с измерительной шкалы оси Z значений перемещений измерительного блока. Измерительный блок оснащён цветной камерой высокого разрешения с системой автоматической фокусировки и системой программируемой кольцевой цветной светодиодной подсветки. Дополнительно измерительный блок может быть оснащён камерой с телецентрической линзой, контактным или лазерным датчиком.

Перемещение по осям осуществляется на механических подшипниках. Приборы работают под управлением входящего в комплект персонального компьютера. Измерения проводятся в ручном или автоматическом режимах. Автоматический режим реализуется через программное обеспечение, установленное на персональный компьютер, по заранее составленному алгоритму (ЧПУ). Основание приборов имеет антивибрационные регулируемые опоры для установки по уровню.

К данному описанию типа относятся микроскопы видеоизмерительные консольные ADF изготавливаемые в модификациях ADF ММ, ADF SA, ADF EA, ADF FA и ADF SS в следующих типоразмерах:

- модификации ADF ММ включают в себя типоразмеры: 212, 322, 432;

- модификации ADF SA включают в себя типоразмеры: 212, 322, 432;

- модификации ADF EA включают в себя типоразмеры: 322, 432;

- модификации ADF FA включают в себя типоразмеры: 322, 432, 542, 652;

- модификация ADF SS включает в себя типоразмер: 09061.

Модификация ADF ММ оснащена ручной системой привода по всем осям. Модификация ADF SA имеет моторизацию по оси Z и ручной привод по осям XY. Модификации ADF EA и ADF FA имеют моторизацию по осям XYZ, основание модификации ADF FA отличается большей виброустойчивостью. Модификация ADF SS имеет настольную конструкцию. Каждая модификация может иметь следующие исполнения в соответствии со структурным обозначением:

ADF XX-ABC-Y....

где:

- XX - буквенное обозначение модификации (ММ, SA, EA, FA, SS);

- ABC - числовое обозначение верхних пределов диапазонов измерений по осям где: А - диапазон измерения по оси Х, В - диапазон измерения по оси Y, С - диапазон измерения по оси Z. Обозначается первыми цифрами из диапазонов измерений системы от 1 до 6, где 1 - до 100 мм, 2 - до 200 мм и т.д. (для модификации SS X: 06 - до 60мм, Y: 09 - до 90 мм, обозначение по оси Z аналогично остальным модификациям). Диапазон измерений до 200 мм по оси Z является стандартным и допускается заменять на ноль;

- Y - буквенное обозначение исполнений контроля размеров и дополнительных комплектующих где:

S1, S2, S3 - исполнение с оптической подсистемой увеличением 0,7-4,5 крат с камерами различного типа (Sl-цифровая камера, S2-аналогавая камера, S3-цифровая камера высоко разрешения);

T - исполнение с телецентрической оптикой. Принцип работы телецентрической оптики в видеоизмерительном микроскопе основан на использовании только параллельных лучей света, что достигается размещением апертурной диафрагмы в задней фокальной плоскости. Это обеспечивает неизменное увеличение, отсутствие перспективы и параллакса, делая систему нечувствительной к небольшим отклонениям в положении;

P - исполнение с контактным щупом Renishaw MCP или ADF TP. Принцип работы контактного датчика заключается в фиксации момента физического контакта между своим измерительным и поверхностью измеряемой детали, и мгновенной передаче координат этой точки в программное обеспечение;

L - исполнение с лазерным датчиком Keyence CL или ADF LP. Принцип работы лазерного датчика заключается в проведении точных измерений по оси Z бесконтактным способом;

I - исполнение с расширенным функционалом, не влияющим на метрологические характеристики. (установленный джойстик, дополнительные кнопки управления, дополнительные разъемы usb и т.п.). Исполнение S1 является стандартным и обозначается только совместно с исполнением T. Все исполнения не являются взаимоисключающими. При конфигурации оборудования несколькими исполнениями фактический диапазон измерений может уменьшиться относительно номинального значения.

Заводской номер в виде цифрового обозначения, состоящего из арабских цифр, наносится на маркировочную табличку, расположенную на задней поверхности основания.

Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено.

Пломбирование приборов не производится. В процессе эксплуатации, приборы не предусматривают внешних механических регулировок.

Общий вид приборов приведён на рисунке 1.

Модель

Производство РФ

| Микроскоп

Наименование андеоизмерительный ________ консольный

Место нанесения маркировочной таблички с заводским номером средства измерений

Напряжение

ЗАвОДСКОЙ НОМЕР 2SO1CT

ADF FA-432-S1PTL МО, г.о. Химки, д,Черная грязь. с4

в)                                                              г)

б)

22ОВ/5ОГЦ

Fflf

Рисунок 1 - Общий вид микроскопов видеоизмерительных консольных ADF модификаций: а) ADF MM, ADF SA и ADF EA; б) ADF FA; в) ADF SS;

г) место нанесения маркировочной таблички

Программное обеспечение

Системы работают под управлением метрологически значимого программного обеспечения (далее - ПО) ADF measuring, ADF Scan, RationalVue устанавливаемого на внешний персональный компьютер, и предназначенного для обеспечения взаимодействия узлов приборов, выполнения измерений, сохранения и экспорта измеренных величин, а также обработки полученных результатов.

Защита ПО и измеренных данных от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные ПО приведены в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

ADF measuring

ADF Scan

RationalVue

Номер версии (идентификационный номер) ПО

не ниже V5

не ниже

2.0.0.0

не ниже

2020.1.000000

Цифровой идентификатор ПО

_

_

_

Технические характеристики

Таблица 2 - Диапазон измерений и пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров

Мод.

Диапазон измерений линейных размеров, мм

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм, при использовании

по оси

оптического датчика

контактного датчика

телецентрической линзы

лазерного датчика

X

Y

Z

по оси X, Y

в плоскости осей X,Y

по оси Z

по оси X, Y, Z

объёмная

по оси X, Y

в плоскости осей X, Y

по оси Z

ADF

ММ-

212

от 0 до 200

от 0 до 100

от 0 до 200

±(2,4+L/200 )1) ±(2,4+L/300 ) 2)

±(1,4+L/200 )3)

±(1,4+L/300 ) 4)

±(1,1+L/200 )5)

±(1,1+L/300 ) 6)

±(3,8+L/200)1) ±(3,8+L/300) 2)

±(1,8+L/200)3) ,5)

±(1,8+L/300) 4),6)

±(5+L/100)

7)

±(5+L/200)

8)

±(1,9+L/100 )7) ±(1,9+L/200 ) 8)

±(3,9+L/100)

7)

±(3,9+L/200)

8)

±(2,9+L/150 )7) ±(2,9+L/250 ) 8)

±(5+L/100)

7)

±(5+L/200)

8)

±(1,5+L/100 )7) ±(1,5+L/200 ) 8)

ММ-

322

от 0 до 300

от 0 до 200

ММ-432

от 0 до 400

от 0 до 300

SA-212

от 0 до 200

от 0 до 100

SA-

322

от 0 до 300

от 0 до 200

SA-

432

от 0 до 400

от 0 до 300

EA-

322

от 0 до 300

от 0 до 200

EA-432

от 0 до 400

от 0 до 300

FA-

322

от 0 до 300

от 0 до 200

FA-432

от 0 до 400

от 0 до 300

FA-

542

от 0 до 500

от 0 до 400

FA-

652

от 0 до 600

от 0 до 500

Продолжение таблицы 2

Мод.

Диапазон измерений линейных размеров, мм

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм, при использовании

по оси

оптического датчика

контактного датчика

телецентрической линзы

лазерного датчика

X

Y

Z

по оси X, Y

в плоскости осей X,Y

по оси Z

по оси X, Y, Z

объёмная

по оси X, Y

в плоскости осей X, Y

по оси Z

SS-09061

от 0 до 90

от 0 до 60

от 0 до 100

_

_

_

_

_

_

1) При разрешении измерительных шкал 0,5 мкм и в исполнении S1

2) При разрешении измерительных шкал 0,1 мкм и в исполнении S1

3) При разрешении измерительных шкал 0,5 мкм и в исполнении S2

4) При разрешении измерительных шкал 0,1 мкм и в исполнении S2

5) При разрешении измерительных шкал 0,5 мкм и в исполнении S3

6) При разрешении измерительных шкал 0,1 мкм и в исполнении S3

7) При разрешении измерительных шкал 0,5 мкм

8) При разрешении измерительных шкал 0,1 мкм

L - измеряемая длина в мм

Таблица 3 - Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений плоских углов при использовании оптического датчика (кроме исполнения L)_____________________________

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерений плоских углов

±180°

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений плоских углов

±15"

Таблица 4 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц

220

50

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность воздуха, %, не более

от +18 до +22 80

Допустимое изменение температуры, °C не более, в течении: - 1 часа - 24 часов

1 2

Разрешение измерительных шкал, мкм

0,5/0,1

Таблица 5 - Массогабаритные размеры

Модификация

Габаритные размеры, мм, не более длинахширинахвысота

Масса, кг, не более

ММ-212

1520х910х1900

200

ММ-322

1530x920x1900

240

ММ-432

1540x930x1900

280

SA-212

1520x910x1900

220

SA-322

1530x920x1900

260

SA-432

1540x930x1900

280

EA-322

1530x920x1900

320

EA-432

1540x930x1900

280

FA-322

750x900x2000

800

FA-432

850x950x2000

880

FA-542

950x1000x2000

960

FA-652

1000x1050x2000

1020

SS-90601

500x900x500

100

Таблица 6 - Показатели надёжности

Наименование характеристики

Значение

Наработка на отказ, часов, не менее

10000

Средний срок службы, лет, не менее

5

Знак утверждения типа

наносится типографским способом на титульный лист руководства по эксплуатации.

Комплектность

Таблица 7 - Комплектность приборов

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп видеоизмерительный консольный (модификация и исполнение в соответствии с заказом потребителя)

ADF

1 шт.

Контактный датчик

Renishaw MCP / ADF TP

по заказу

Телецентрический оптический датчик широкого разрешения

_

по заказу

Лазерный датчик

Keyence CL / ADF LP

по заказу

Персональный компьютер с установленным ПО

_

1 шт.

Руководство по эксплуатации

Д-МИКРО.001.РЭ

1 экз.

Паспорт

ADF.001.HC

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в разделе 2 «Использование по назначению» документа «Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF. Руководство по эксплуатации».

Нормативные документы

Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утвержденная приказом Росстандарта № 2840 от 29 декабря 2018 г.;

ТУ 26.51.43-024-49953993-2024 Микроскопы видеоизмерительные консольные ADF. Технические условия.

Другие Микроскопы

96942-25
STM Микроскопы измерительные
Jaten Technology Co., Ltd., КИТАЙ, No 28, Songlang Street, Shangqiao Industrial, Dongcheng District, Dongguan, Guangdong
Микроскопы измерительные STM (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров профилей и элементов поверхностей деталей в проходящем и отраженном свете.
96748-25
УИМ Микроскопы универсальные измерительные
АО «РИК», РОССИЯ, 355020, Ставропольский край, г. Ставрополь, ул. Объездная, д. 27
Микроскопы универсальные измерительные УИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных изделий в прямоугольных и полярных координатах.
96755-25
EM Микроскопы сканирующие электронные измерительные
COXEM Co., Ltd., КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #201 199, Techno 2-ro (Migun Techno-World 1-cha), Yuseong-gu, Daejeon, 34025
Микроскопы сканирующие электронные измерительные EM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элемент...
96294-25
Helios NanoLab 650 Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
FEI Company, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ, 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650 (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур, проведения локальной стру...
96307-25
LEXT OLS4100-SAF Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
OLYMPUS Corporation, ЯПОНИЯ, Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.