86402-22: Phenom Микроскопы электронные растровые настольные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы электронные растровые настольные Phenom

Номер в ГРСИ РФ: 86402-22
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Thermo Fisher Scientific", США
Скачать
86402-22: Описание типа СИ Скачать 371.1 КБ
86402-22: Методика поверки Скачать 6.1 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы электронные растровые настольные Phenom поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы электронные растровые настольные Phenom (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного анализа.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 86402-22
Наименование Микроскопы электронные растровые настольные
Модель Phenom
Срок свидетельства (Или заводской номер) 16.08.2027
Производитель / Заявитель

Фирма "Thermo Fisher Scientific", Нидерланды

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 2
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 2 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

86402-22: Описание типа СИ Скачать 371.1 КБ
86402-22: Методика поверки Скачать 6.1 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы электронные растровые настольные Phenom (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электроннозондового элементного анализа.

Описание

Принцип действия микроскопов основан на сканировании сфокусированным пучком ускоренных электронов поверхности исследуемого объекта, детектировании вторичных или обратно рассеянных электронов для формирования изображения на экране персонального компьютера синхронно с разверткой электронного пучка. Отношение размера изображения на экране к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.

Микроскопы выпускается в следующих модификациях: Phenom Pure G6, Phenom Pro G6, Phenom ProX G6 , Phenom Pharos G2, Phenom XL G2, Phenom ParticleX, которые различаются между собой в основном значениями ускоряющего напряжения, пространственного разрешения и погрешностью измерений линейных размеров.

Микроскоп представляет собой настольную автоматизированную многофункциональную измерительную систему и состоит из модуля получения изображений, отдельного мембранного вакуумного насоса, источника питания, монитора, рабочей станции. Модуль получения изображений включает электронно-оптическую систему (колонну), камеру образцов, разделенную на два отсека, в первом из которых имеется возможность с помощью телевизионной камеры выбирать по оптическому изображению участок для исследования, затем образец с сохранением ориентации может быть перемещен в отсек для наблюдения электронно-микроскопических изображений. Камера образцов оборудована столиком с моторизованным механизмом перемещения объектов по осям X и Y и ручным приводом по оси Z. В электронно-оптическом отсеке камеры образцов внешним насосом обеспечивается остаточное давление от 1 Па до 60 Па, которое программно устанавливается оператором в зависимости от желаемого режима работы микроскопа (режим вторичной эмиссии или обратно рассеянных электронов). Режим низкого вакуума в камере образцов (при давлении более 10 Па) позволяет проводить исследования непроводящих объектов без предварительного их запыления.

Микроскоп имеет четырехсегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов и опционально устанавливаемый детектор вторичных электронов, обеспечивающий получение изображений в режиме SE. Интегрированный энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (штатно устанавливается на модификации Phenom ProX G6 и опционально - на модификации Phenom Pure G6, Phenom Pharos G2, Phenom XL G2, Phenom ParticleX) выполнен на базе кремниевого дрейфового детектора SDD с активной площадью 25 мм2, охлаждаемый теромоэлектрически. Вакуумная система микроскопа включает встроенный в модуль получения изображений турбомолекулярный насос, обеспечивающий высокий вакуум в области электронной пушки с катодом из гексаборида церия и дополнительно ионный насос для обеспечения сверхвысокого вакуума для электронной пушки с катодом Шоттки с полевой эмиссией (модификация Phenom Pharos G2). Камера образцов и колонна разделены диафрагмой, обеспечивающей необходимый перепад остаточных давлений.

Другие Микроскопы

86403-22
Themis Z G3 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Thermo Fisher Scientific", Нидерланды
Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц, определения их элементного состава методом энергодисперсио...
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5100 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
87394-22
"НаноСкан-01" Микроскопы интерференционные
Общество с ограниченной ответственностью "Электростекло" (ООО "Электростекло"), г. Москва
Микроскопы интерференционные «НаноСкан-01» (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений параметров шероховатости Rmax, Ra по ГОСТ 25142-82 для производственного оптического контроля.
Микроскопы конфокальные MarSurf CM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений шероховатости и линейных размеров (микрогеометрии) поверхности изделий.
88308-23
Jaten Микроскопы видеоизмерительные
Donguan Jaten Instrument Co., Ltd., Китай
Микроскопы видеоизмерительные Jaten (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.