Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия

Микроскопы Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия

67005-17
EVO 18 Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы сканирующие электронные EVO MA10, EVO MA15, EVO MA25, EVO LS10, EVO LS15, EVO LS25, EVO HD15 MA, EVO HD25 MA, EVO HD15 LS, EVO HD25 LS предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
57150-14
Axiovert 200MAT Микроскоп инвертированный
Фирма "Carl Zeiss", Германия
Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отр...
57061-14
AXIO Observer.A1m Микроскопы инвертированные
Фирма "Carl Zeiss AG", Германия
Микроскопы инвертированные AXIO Observer.Alm (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров микроструктуры твердых тел.
55118-13
EVO MA25 Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
48389-11
AxioImager m2M Микроскоп оптический
Фирма "Carl Zeiss MicroImaging GmbH", Германия
Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.
Default ALL-Pribors Device Photo
45324-10
Libra120 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лаборат...
Default ALL-Pribors Device Photo
45266-10
SUPRA-25 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss", Германия
Для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой эл...