Оборудование "Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия" в Госреестре РФ (Страница 9 )
Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия

Оборудование в госреестре Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия

21684-09
e-scan ЭПР-спектрометры
Фирма "Bruker BioSpin GmbH", ГЕРМАНИЯ
Для измерения спектров электронных переходов в веществах и материалах в твердой и жидкой фазе, сырье и продукции пищевого производства и биологических проб, фармацевтики и т.д. Применяются при определении состава, структуры и степени облучения вещест...
16733-09
AVANCE ЯМР-спектрометры
Фирма "Bruker BioSpin GmbH", ГЕРМАНИЯ
Для проведения научных и аналитических (качественных и количественных) исследований сложных соединений, изучения строения и реакционной способности молекул, позволяют определять изомерный состав, проводить конформационный анализ, для применения в лаб...
39388-08
MaXis Масс-спектрометры
Фирма "Bruker Daltonik GmbH", ГЕРМАНИЯ
39387-08
MicrOTOF мод. MicrOTOF-Q Масс-спектрометры
Фирма "Bruker Daltonik GmbH", ГЕРМАНИЯ
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения массовой доли углерода, серы в металлах, сплавах и неорганических твердых материалах в аналитических лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских учреждений.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения массовой доли кислорода, азота, водорода в металлах и сплавах и применяются в аналитических лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских учреждений.
Default ALL-Pribors Device Photo
38722-08
QUANTAX Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа
Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия; Фирма "Bruker AXS Microanalysis GmbH", Германия (срок свидетельства: 01.10.2013 г.)
Для химического анализа состава твердых образцов, тонких слоев или частиц на электронных микроскопах и микрозондах в научных исследованиях, в системе высшего образования и промышленности для решения прикладных задач в области рентгеновской спектромет...
Default ALL-Pribors Device Photo
38721-08
D2 CRYSO Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные
Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия; Фирма "Bruker AXS Microanalysis GmbH", Германия (срок свидетельства: 01.10.2013 г.)
Для рентгенографического определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов, а также качественного элементного анализа, для контроля качества производства в полупроводниковой промышленности, выращивания монокристаллов, в...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для проведения последовательного многоэлементного неразрушающего анализа твердых, жидких и порошковых проб в научно-исследовательских лабораториях, в системе высшего образования и в различных отраслях промышленности (металлургия, электроника, химия,...