Оборудование в госреестре Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах пита...

Для определения времен спин-спиновой и спин-решеточной релаксации протонов, концентрации веществ в твердой и жидкой фазах, сырье и продукции сельскохозяйственного, химического производств, фармацевтики, продуктах питания и т.д. в аналитических лабора...

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидких фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах пита...

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ИК диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в твердой и жидкой фазах, продукции нефтехимического производства, органического синтеза, продуктах пита...

Для точных рентгеновских дифракционных измерений и обеспечивают получение мощного стабильного рентгеновского излучения с высокой интенсивностью в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического, биологического и...

Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...

Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...

Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...

Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...

Для измерения оптических спектров пропускания, отражения в ближнем и дальнем ИК диапазоне, видимой и ультрафиолетовой области, определения концентрации различных веществ в твердой и жидкой фазах исследуемых образцов в следующих областях: нанотехнолог...