Дифрактометры рентгеновские монокристальные X8PROTEUM
| Номер в ГРСИ РФ: | 33866-07 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия |
Скачать
|
33866-07: Описание типа
33866-07.pdf
|
Скачать | 210.9 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Поверка
Дифрактометры рентгеновские монокристальные X8PROTEUM поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 33866-07 |
| Действует | по 01.03.2012 |
| Наименование | Дифрактометры рентгеновские монокристальные |
| Модель | X8PROTEUM |
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | f95f9fe4-bac4-a32c-db10-d4d2514b180f |
| Год регистрации | 2007 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2007 |
| Страна-производитель | США |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО ФНТЦ "Инверсия" |
| Адрес центра | 107031, г.Москва, ул.Рождественка, 27 |
| Руководитель центра | Пункевич Борис Семенович |
| Телефон | () |
| Факс | 208-49-62 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.03.2012 |
| Номер сертификата | 26771 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 02 от 15.02.07 п.07 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
США
5465 East Cheryl Parkway, MADISON, Wi 53711, USA
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП ГНТЦ "Инверсия" |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 28.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Дифрактометры рентгеновские монокристальные X8PROTEUM поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Скачать
|
33866-07: Описание типа
33866-07.pdf
|
Скачать | 210.9 КБ |
Другие Дифрактометры
33867-07
X8PROSPECTOR
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
33868-07
KAPPA APEX
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...
35586-07
ДНР "Дифрей"
Дифрактометры настольные рентгеновские
ОАО "Научные приборы", РОССИЯ, г.С.-Петербург
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургически...
38721-08
D2 CRYSO
Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные
Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия;
Фирма "Bruker AXS Microanalysis GmbH", Германия (срок свидетельства: 01.10.2013 г.)
Для рентгенографического определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов, а также качественного элементного анализа, для контроля качества производства в полупроводниковой промышленности, выращивания монокристаллов, в...
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца, с целью определения его качественного фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические,...