Дифрактометры
Дифрактометр - измерительный прибор для измерения интенсивности и направления излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте.
Наименований
88
Компаний
30
Дифрактометры в ГРСИ РФ 88
98903-26
ДРОН
Дифрактометры рентгеновские
АО «ИЦ «Буревестник», РОССИЯ, 197375, г. Санкт-Петербург, ул. Летчика Паршина, д. 3, стр. 1
Дифрактометры рентгеновские ДРОН (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, и могут применяться для рентгенодифракционного анализа фазового сос...
98542-26
Пеликан
Дифрактометры рентгеновские роботизированные
АО «ИЦ «Буревестник», РОССИЯ, 197375, г. Санкт-Петербург, ул. Летчика Паршина, д. 3, стр. 1
Дифрактометры рентгеновские роботизированные Пеликан (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного кристаллической решеткой, для рентгенодифракционного анализа изделий из мет...
98534-26
AINUO S88-PRO
Дифрактометр рентгеновский портативный
Dandong Haoyuan Instrument Co., Ltd., КИТАЙ, No. 105 Yanghe Street, Dandong, Liaoning
Дифрактометр рентгеновский портативный AINUO S88-PRO (далее - дифрактометр) предназначен для измерения угловых положений и определения интенсивностей дифракционных пиков, возникающих при воздействии сколимированного рентгеновского излучения на анализ...
96396-25
Vektor GaN
Дифрактометр рентгеновский
Accent Optical Technologies (U.K.) Ltd, СОЕДИНЕННОЕ КОРОЛЕВСТВО, Haxby Road, York, YO31 8SD, England
Дифрактометр рентгеновский Vektor GaN (далее - дифрактометр) предназначен для измерений углового положения дифракционных максимумов и последующего анализа углового распределения интенсивности рентгеновских лучей, дифрагированных на кристаллической ре...
96378-25
МИРА
Дифрактометры рентгеновские многофункциональные
ООО «Амтертек», РОССИЯ, 125459, г. Москва, Походный пр-д, д. 23, офис 107
Дифрактометры рентгеновские многофункциональные МИРА (далее - дифрактометры) предназначены для измерений угловых положений дифракционных пиков (максимумов), возникающих при воздействии коллимированного рентгеновского излучения на анализируемый объект...