Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия
Дифрактометры Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия
Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллической решетке, параметров кристаллической решетки, а также для определения фазового сос...
Дифрактометры рентгеновские D8 ENDEAVOR (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллической решетке, параметров кристаллической решетки, а также для определения фазового со...
Дифрактометры рентгеновские D8 DISCOVER (далее - дифрактометры) предназначены для измерений параметров кристаллической решетки методом рентгеновской дифракции в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений.
Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерения параметров кристаллической решетки и исследования твердых веществ методом порошковой дифрактометрии.
Дифрактометры рентгеновские D2 PHASER (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерения параметров кристаллической решетки методом порошковой дифрактометрии.
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 VENTURE предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 QUEST предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.
38721-08
D2 CRYSO Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные
Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия
Для рентгенографического определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов, а также качественного элементного анализа, для контроля качества производства в полупроводниковой промышленности, выращивания монокристаллов, в...
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...