84492-22: D8 ADVANCE Дифрактометры рентгеновские - Производители, поставщики и поверители

Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE

Номер в ГРСИ РФ: 84492-22
Категория: Дифрактометры
Производитель / заявитель: Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия
Скачать
84492-22: Описание типа СИ Скачать 277.2 КБ
Нет данных о поставщике
Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллической решетке, параметров кристаллической решетки, а также для определения фазового состава кристаллических веществ методом рентгеновской дифракции в соответствии с аттестованными (стандартизованными) методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений).

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 84492-22
Наименование Дифрактометры рентгеновские
Модель D8 ADVANCE
Страна-производитель ГЕРМАНИЯ
Производитель / Заявитель

Фирма "BRUKER AXS GmbH", Германия

ГЕРМАНИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 2
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 2 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 21.12.2024

Поверители

Скачать

84492-22: Описание типа СИ Скачать 277.2 КБ

Описание типа

Назначение

Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллической решетке, параметров кристаллической решетки, а также для определения фазового состава кристаллических веществ методом рентгеновской дифракции в соответствии с аттестованными (стандартизованными) методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений).

Описание

Принцип действия дифрактометров основан на дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки пробы исследуемого вещества. Дифракция рентгеновских лучей соответствует закону Вульфа-Брегга. Дифрактометры построены по оптической схеме, в которой проба исследуемого вещества находится в центре гониометра. Направляемый из источника пучок рентгеновских лучей отражается от кристаллографических атомных плоскостей пробы исследуемого вещества и попадает в блок детектирования с последующей обработкой полученных данных. Регистрация дифракционной картины осуществляется при повороте блока детектирования, рентгеновского источника и осей гониометра с требуемыми угловыми скоростями.

В дифрактометрах для регистрации квантов рентгеновского излучения устанавливается позиционно-чувствительный или сцинтилляционный детекторы.

Конструктивно дифрактометры представляют собой стационарные напольные приборы модульной архитектуры, состоящие из источника рентгеновского излучения с анодами из разных материалов, определяемых конфигурацией (медь, кобальт, хром, молибден и другие), прецизионного гониометра, блоков детектирования и блока управляющей электроники со встроенным микропроцессором. Модули собраны в едином измерительном блоке.

Нанесение знака поверки, знака утверждения типа на дифрактометры не предусмотрено. Каждый экземпляр дифрактометра имеет заводской номер, расположенный под передней панелью средства измерений, слева. Заводской номер имеет цифровой формат и наносится травлением, гравированием, типографским или иным пригодным способом.

Общий вид средств измерений представлен на рисунке 1.

Рисунок 1 - Общий вид дифрактометров рентгеновских D8 ADVANCE

Пломбирование дифрактометров не предусмотрено. Конструкция дифрактометра обеспечивает ограничение доступа к частям, несущим первичную измерительную информацию, местам настройки (регулировки).

Программное обеспечение

Дифрактометры оснащены программным обеспечением (ПО) DIFRAC.Measurement Се^ег, позволяющим проводить контроль процесса измерений, осуществлять сбор экспериментальных данных, и программным обеспечением DIFRAC.EVA, позволяющим обрабатывать и сохранять полученные результаты, передавать результаты измерений на персональный компьютер, принтер или локальную сеть. ПО может быть установлено на персональный компьютер или на дополнительный блок с сенсорным экраном.

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

DIFRAC.Measurement center

DIFRAC.EVA

Номер версии (идентификационный номер) ПО

не ниже 7.0.0.0

не ниже 5.0.0.0

Цифровой идентификатор ПО

-

-

Влияние программного обеспечения на метрологические характеристики дифрактометров учтено при нормировании характеристик.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Диапазон углов дифракции 20, °

от 0 до 145

Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении угловых положений дифракционных максимумов, °

± 0,02

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Геометрия съемки

0/0

Вращение образца по оси ф, °

свободное вращение

Материал анода рентгеновской трубки

Cu / Co / Cr / Mo

Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока*, В - частота переменного тока, Г ц

220 ± 10 (или 380 ± 10)

50

Габаритные размеры, мм, не более:

- высота

- ширина (с сенсорным экраном)

- длина

1868

1300

1135

Масса, кг, не более

770

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °C

- относительная влажность, %, не более

от + 15 до + 35

80

* Напряжение переменного тока и количество фаз электрического питания устанавливается на заводе-изготовителе по требованию заказчика

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

аблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Дифрактометр рентгеновский

D8 ADVANCE

1 шт.

Персональный компьютер

ПК

1 шт.

Программное обеспечение

DIFRAC. Measurement center DIFRAC.EVA

1 шт.

Руководство по эксплуатации

РЭ

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в руководстве по эксплуатации, раздел «Управление системой».

Нормативные документы

Техническая документация фирмы изготовителя «BRUKER AXS GmbH», Германия.

Другие Дифрактометры

86087-22
POWDIX Дифрактометры рентгеновские
Закрытое акционерное общество "ЛИНЕВ АДАНИ" (ЗАО "ЛИНЕВ АДАНИ"), Республика Беларусь
Дифрактометры рентгеновские POWDIX (далее - дифрактометры) предназначены для измерения интенсивностей и углов дифракции рентгеновского излучения на поликристаллических объектах с целью решения задач рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа пол...
88425-23
ЭКРОС XRD Дифрактометры настольные рентгеновские
Общество с ограниченной ответственностью "ЭКРОСХИМ" (ООО "ЭКРОСХИМ"), г. Санкт-Петербург
Дифрактометры настольные рентгеновские ЭКРОС XRD (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, для определения фазового состава объектов, параметров кристаллическ...
88449-23
TD Дифрактометры рентгеновские
Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd., Китай
Дифрактометры рентгеновские TD (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения методом рентгеновской дифракции.
88547-23
Колибри Дифрактометры рентгеновские
Акционерное общество "Инновационный центр "Буревестник" (АО "ИЦ Буревестник"), г. Санкт-Петербург
Дифрактометры рентгеновские Колибри (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивностей и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного трехмерной периодической кристаллической решеткой, при решении различных задач рентгенодифр...
89419-23
EMMA Дифрактометры рентгеновские
Фирма "GBC Scientific Equipment Pty Ltd.", Австралия
Дифрактометры рентгеновские EMMA (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов....