Оборудование в госреестре Фирма "Jeol", Япония

Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...

Для прецизионного элементного анализа различных газов, является многоцелевым хромато-масс-спектрометром высокого разрешения, который разработан как высокочувствительный спектрометр широкого назначения.