Фирма "Jeol", Япония
Оборудование в госреестре Фирма "Jeol", Япония
Микроанализаторы электронно-зондовые JXA-8230 (далее - микроанализаторы JXA-8230) предназначены для локальных измерений массовой доли элементов от бериллия до урана в различных твердых (монолитных) веществах и материалах в соответствии с аттестованны...
Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердых структур.
Анализаторы биохимические автоматические Bio Majesty JCA-BM6010/C (далее анализаторы) предназначены для измерения содержания глюкозы, мочевины и холестерина, а также ионов (Na+, K+, Cl-) в биологических жидкостях.
60731-15
JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) Микроскопы электронные растровые
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотел...
60730-15
JMS (мод. JMS-Q1050GС, JMS-T100LP, JMS-GCMATE II) Масс-спектрометры
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Масс-спектрометры JMS (модификации JMS-Q1050GQ JMS-T100LP, JMS-GCMATE II) (далее - масс-спектрометры) предназначены для измерений массовых чисел ионов при качественном и количественном определении следовых количеств органических и неорганических веще...
60728-15
JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) Микроскопы электронные растровые
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (модификации JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического...
53251-13
JSM-6x10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A) Микроскопы электронные растровые
Компания "JEOL Ltd.", Япония
Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерения масштабного коэффициента видеоизображения при помощи получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, а также для э...
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локаль...