95798-25: JEM-2100 Plus Микроскоп просвечивающий электронный измерительный - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus

Номер в ГРСИ РФ: 95798-25
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Jeol", Япония
Скачать
95798-25: Описание типа
2025-95798-25-1.pdf
Скачать 377.6 КБ
95798-25: Методика поверки МП СС-61-24-2024
2025-mp95798-25-1.pdf
Скачать 1.2 MБ
Нет данных о поставщике
Поверка
Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллической решетки и локального элементного состава методом энергодисперсионной спектроскопии.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 95798-25
Действует по 03.07.2030
Наименование Микроскоп просвечивающий электронный измерительный
Модель JEM-2100 Plus
Приказы
1342 от 03.07.2025 — Об утверждении типов средств измерений
Код идентификации производства ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории РФ в соответствии с постановлением №719
Характер производства Единичное
Идентификатор записи ФИФ ОЕИ 2c1774f5-4b6c-3b0b-645f-948694bdd30e
Испытания
Дата Модель Заводской номер
07.02.2025 EM1753000180018
Производитель / Заявитель

JEOL Ltd., ЯПОНИЯ, 1-2 Musashino 3-chome, Akishima, Tokyo, 196-8558

Поверка

Методика поверки / информация о поверке
МП СС-61-24-2024 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus. Методика поверки (с 03.07.2025)
Межповерочный интервал / Периодичность поверки
1 год
Зарегистрировано поверок
Найдено поверителей
Успешных поверок (СИ пригодно) 3 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0 %)
Актуальность информации 21.12.2025
Найти результаты поверки
Указан в паспорте или на самом приборе

Поверители

КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг
Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Скачать

95798-25: Описание типа
2025-95798-25.pdf Файл устарел
Скачать 377.6 КБ
95798-25: Методика поверки
2025-mp95798-25.pdf Файл устарел
Скачать 1.2 MБ
95798-25: Описание типа
2025-95798-25-1.pdf
Скачать 377.6 КБ
95798-25: Методика поверки МП СС-61-24-2024
2025-mp95798-25-1.pdf
Скачать 1.2 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллической решетки и локального элементного состава методом энергодисперсионной спектроскопии.

Описание

Принцип действия микроскопа основан на прохождении пучка ускоренных электронов через исследуемый объект, где происходит их рассеяние на кристаллической решетке или неоднородностях структуры объекта. В плоскости изображения объективной линзы, расположенной непосредственно за образцом, формируется действительное изображение объекта, а в ее фокальной плоскости формируется дифракционная картина, каждая точка которой соответствует определенному углу выхода электронов из образца.

Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему, в состав которой входят:

- модуль получения изображений;

- источник высокого напряжения;

- блок электроники;

- форвакуумный насос;

- система замкнутого водяного охлаждения.

Основным компонентом модуля получения изображений является электроннооптическая колонна. Электронно-оптическая колонна содержит электронную пушку и систему электронных линз: блок конденсорных линз, объективную линзу, блок промежуточных линз и проекционную линзу. Электронная пушка включает источник электронов на основе монокристаллического катода LaB6. Объективная линза дополнена диафрагмой, положением которой можно управлять. Регистрация изображения в режиме просвечивающей электронной микроскопии и режиме дифракции осуществляется с помощью 11 Мп ПЗС-камеры.

Модуль получения изображений также включает в себя управляющий компьютер со специализированным программным обеспечением и энергодисперсионный спектрометр (ЭДС), выполненный на основе SDD детектора для регистрации химических элементов от Be до Am.

Источник высокого напряжения вырабатывает высокостабильное ускоряющее напряжение, которое подается на электронную пушку, в диапазоне от 80 до 200 кВ.

Пломбирование микроскопа не предусмотрено. Заводской номер № EM1753000180018 и год изготовления нанесены типографским способом на шильдик, закрепленный на задней панели модуля получения изображений. Нанесение знака поверки на микроскоп не предусмотрено. Общий вид микроскопа и место нанесения знака утверждения типа приведены на рисунке 1.

место нанесения знака утверждения типа

Рисунок 1 - Общий вид микроскопа просвечивающего электронного измерительного

JEM-2100 Plus

Место установки шильдика с заводским номером приведено на рисунке 2

место установки шильдика с заводским номером

Рисунок 2 - Место установки шильдика с заводским номером

Программное обеспечение

Программное обеспечение (ПО) «TEM Center» является специализированным ПО и предназначено для управления всеми функциями микроскопа, включая перемещение образца, фокусировку, коррекцию астигматизма, управление вакуумной системой, контроль и формирование изображения с детектора. Также ПО «TEM Center» позволяет управлять ЭДС спектрометром и проводить качественный и количественный анализ спектров характеристического рентгеновского излучения, получаемого из измерительного тракта детектора рентгеновского излучения.

Программное обеспечение (ПО) «RADIUS» является специализированным ПО и предназначено для управления цифровой ПЗС-камерой. Также ПО «RADIUS» позволяет формировать, обрабатывать и анализировать изображения, получаемые с камеры.

ПО «TEM Center» и «RADIUS» не могут быть использованы отдельно от микроскопа. Метрологически значимая часть ПО микроскопа, цифровой камеры и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты от преднамеренных изменений.

Идентификационные данные (признаки) ПО указаны в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

TEM Center

RADIUS

Номер версии (идентификационный номер) ПО

1.7.6.1591

1.4

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

-

-

Уровень защиты ПО соответствует уровню «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерений линейных размеров, мкм

от 0,0003 до 50

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров при ускоряющем напряжении 200 кВ, нм (L-линейный размер, нм)

±(0,3+0,03^ L )

Энергетическое разрешение энергодисперсионного спектрометра на линии Ka марганца, эВ, не более

136

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Габаритные    размеры    основных    составных    частей

(ширинахглубинахвысота), мм, не более:

- модуль получения изображений

- источник высокого напряжения

- блок электроники

2040х1800х2440 880x690x1400 570x800x1750

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность воздуха, %, не более

от +18 до +22

80

Напряжение питания от однофазной сети переменного тока частотой 50 Гц, В

от 205 до 255

Знак утверждения типа

Наносится на боковую панель модуля получения изображений в виде наклейки и на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп просвечивающий электронный измерительный

JEM-2100 Plus

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

-

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в документе «Микроскоп просвечивающий электронный измерительный JEM-2100 Plus. Руководство по эксплуатации», раздел 5 «Работа с микроскопом».

Нормативные документы

Локальная поверочная схема.

Другие Микроскопы

96192-25
ВИМ-II Микроскопы видеоизмерительные
ООО "Фодис", РОССИЯ, No. 66 Dongfang Road, Jingkou District, Zhenjiang City, Jiangsu Province
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
96261-25
UNIMETRO ULTRA Микроскопы видеоизмерительные консольные
Dongguan UNIMEТRO Precision Machinery Со., Ltd, КИТАЙ, No.4 Gangtou Hengcheng Road, Xin'an community, Chang'an Town, Dongguan City
Микроскопы видеоизмерительные консольные UNIMETRO ULTRA (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
96307-25
LEXT OLS4100-SAF Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
OLYMPUS Corporation, ЯПОНИЯ, Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.
96294-25
Helios NanoLab 650 Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
FEI Company, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ, 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650 (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур, проведения локальной стру...
96755-25
EM Микроскопы сканирующие электронные измерительные
COXEM Co., Ltd., КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #201 199, Techno 2-ro (Migun Techno-World 1-cha), Yuseong-gu, Daejeon, 34025
Микроскопы сканирующие электронные измерительные EM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элемент...