Микроскопы Фирма "NT-MDT", г.Москва

Микроскопы Фирма "NT-MDT", г.Москва

Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...