Фирма "Teradyne Inc.", США

Стенды измерительные для больших и сверхбольших интегральных схем J750Ex-HD (далее - стенды) предназначены для измерения вольт-амперных характеристик микросхем с высокой степенью интеграции.

Системы измерительные для БИС и СБИС J750E и J750Ex (далее по тексту - системы) предназначены для измерений и контроля вольт-амперных параметров больших интегральных схем (БИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС).

Тестер UltraFlex 810-72-00 (далее ╞ тестер) предназначен для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контр...