КТИ прикладной микроэлектроники СО РАН, г.Новосибирск
Оборудование в госреестре КТИ прикладной микроэлектроники СО РАН, г.Новосибирск
Для определения удельной поверхности путем измерений объемов аргона, адсорбированного на дисперсных пористых материалах, для контроля текстурных характеристик дисперсных и пористых материалов в паспортизации готовой продукции, в научных исследованиях...