ОАО "НЦ ОФИ", г.Москва
Профилометры ОАО "НЦ ОФИ", г.Москва
30495-05
ПИК-30 Интерферометры для измерения формы поверхности (профилометры)
ОАО "НЦ ОФИ", г.Москва
Для измерения двумерной карты высот профиля поверхности полированного изделия (топограммы) относительно начальной точки, выбираемой оператором, в том числе формы поверхности подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, а радиус кр...