Оборудование в госреестре ОАО "НЦ ОФИ", г.Москва

Для измерения двумерной карты высот профиля поверхности полированного изделия (топограммы) относительно начальной точки, выбираемой оператором, в том числе формы поверхности подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, а радиус кр...

Для последовательного воспроизведения световых стимулов, автоматически выбираемых случайным образом на заданном участке полусферы, измерения времени реакции пациента на предъявленный стимул, автоматической классификации и регистрации результатов на б...