Оборудование в госреестре ООО НПП "Центр перспективных технологий", г.Москва

Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...