Оборудование в госреестре ЗАО "Научные приборы", г.С.-Петербург

Спектрометры портативные рентгенофлуоресцентные X-SPEC (далее по тексту - спектрометры) предназначены для измерений массовой доли элементов в пробах твердых и жидких веществ, порошков, пленок и других материалов.

Дифрактометры настольные рентгеновские Дифрей-401к (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, при решении задач рентгенофазового анализа матери...

Спектрометры рентгенофлуоресцентные энергодисперсионные РЕАН-М (далее -спектрометры) предназначены для измерений массовой доли элементов в пробах твердых и жидких веществ, порошков, пленок и других материалов в соответствии с аттестованными и стандар...

Спектрометр рентгенофлуоресцентный компактный «ПАНДА» (далее по тексту - спектрометр) предназначен для бесконтактного измерения содержания элементов в порошковых и неподготовленных пробах.

Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30µ предназначены для измерения содержания элементов в точках фокусирования рентгеновских лучей на поверхности исследуемого образца.

Спектрометры рентгенофлуоресцентные портативные X-SPEC (модели 40L, 50L, 40H, 50H, М) предназначены для измерения содержания элементов, входящих в состав твердых и жидких веществ, порошков, пленок и материалов.

Для многоэлементного анализа веществ и материалов. Область применения: криминалистические и научно-исследовательские лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских учреждений, геологические аналитические лаборатории, в учебном процес...

Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургически...