Оборудование в госреестре ЗАО "Спектроскопические системы", г.Москва

Для измерения коэффициента пропускания и оптической плотности твердых и жидких проб различного происхождения в ультрафиолетовом, видимом и ближнем инфракрасном диапазоне спектра, для решения широкого спектра исследовательских задач, связанных с регис...

Для измерения массовых долей элементов от Li до U в различных твердых и порошкообразных веществах и материалах (металлы и сплавы, керамика, стекло, пластмассы, примеси в чистых материалах, прессованные порошки и т.д.), область применения: черная и цв...

Для измерения коэффициента пропускания и оптической плотности твердых и жидких проб различного происхождения в ультрафиолетовом, видимом и ближнем инфракрасном диапазоне спектра, для решения широкого спектра исследовательских задач, связанных с регис...

Для измерения массовых долей элементов от Li до U в различных твердых и порошкообразных веществах и материалах (металлы и сплавы, керамика, стекло, пластмассы, примеси в чистых материалах, прессованные порошки и т.д.), область применения: черная и цв...