ЗАО "Техносистема Н", г.Москва
Оборудование в госреестре ЗАО "Техносистема Н", г.Москва
Интерферометры оптические ЛОМИ - 2 (далее интерферометры) предназначены для измерения размеров и перемещений в нанометровом диапазоне при проведении исследовательских работ, контрольных операций, испытаниях, поверке и калибровке средств воспроизведен...
51907-12
МПГ
Меры горизонтального перемещения нанометрового диапазона
ЗАО "Техносистема Н", РОССИЯ, г.Москва
Меры горизонтального перемещения нанометрового диапазона МПГ (далее ╞ меры перемещений) предназначены для воспроизведения перемещений в латеральной плоскости при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондов...
51906-12
МПВ
Меры вертикального перемещения нанометрового диапазона
ЗАО "Техносистема Н", РОССИЯ, г.Москва
Меры вертикального перемещения нанометрового диапазона МПВ (далее ╞ меры перемещений) предназначены для воспроизведения перемещений при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов, оптических...
Для воспроизведения перемещений при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов, оптических интерферометров, контактных систем измерения размеров и перемещений в нанометровом диапазоне.
48277-11
ДКГ-01
Мера динамическая горизонтального перемещения
ЗАО "Техносистема Н", РОССИЯ, г.Москва
Для воспроизведения перемещений в латеральной плоскости при испытаниях, поверке и калибровке растровых измерительных микроскопов, сканирующих зондовых микроскопов, вертикальных сканирующих интерферометров.