Интерферометры
Интерферометры в ГРСИ РФ
Интерферометры оптические ЛОМИ - 2 (далее интерферометры) предназначены для измерения размеров и перемещений в нанометровом диапазоне при проведении исследовательских работ, контрольных операций, испытаниях, поверке и калибровке средств воспроизведен...
48285-11
Физо Интерферометр фотоэлектрический
ФГУП "НПО "Оптика", г.Москва, ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
Для измерений отклонений от плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей. Применяется в научно-исследовательских институтах, оптическом приборостроении.
Раздел СИ специального назначения. В Госреестре описания нет.
22357-07
ИКПВ-К Интерферометры контактные вертикальные компьютеризированные
ГОУ ВПО МГТУ "Станкин", г.Москва
Для автоматизированной поверки концевых мер длины 3 и 4-го разрядов в диапазоне 0,1...100 мм в метрологических службах производственных корпораций, предприятий и фирм.
30184-05
ИКПВ-К2 Интерферометры контактные вертикальные компьютеризированные
ГОУ МГТУ "Станкин", г.Москва
Для измерений наружных размеров методом сравнения с мерой, специальное программно-математическое обеспечение "BUVER v.5.1" позволяет производить автоматизированную поверку концевых мер длины 2, 3 и 4-го разрядов и классов точности 1...5 в диапазоне 0...
22357-02
ИКПВ-К Интерферометры контактные вертикальные компьютеризированные
МГТУ "СТАНКИН", г.Москва
Для автоматизированной поверки концевых мер длины 3 и 4-го разрядов в диапазоне 0,1-100 мм в метрологических службах производственных корпораций, предприятий и фирм.
1618-02
ЛИР-2 Интерферометры лабораторные
ОАО "Загорский оптико-механический завод" (ЗОМЗ), г.Сергиев Посад
Для определения концентрации растворов по разности показателей преломления исследуемой жидкости и жидкости с известным показателем преломления после его предварительной градуировки потребителем, для применения в химических и физических лабораториях н...
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей