Дифрактометры PW 1800, X-PERT APD, X-PERT MPD, X-PERT MRD
| Номер в ГРСИ РФ: | 15687-96 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды |
Скачать
| 15687-96: Описание типа СИ | Скачать | 222.5 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Дифрактометры PW 1800, X-PERT APD, X-PERT MPD, X-PERT MRD поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 15687-96 |
| Наименование | Дифрактометры |
| Модель | PW 1800, X-PERT APD, X-PERT MPD, X-PERT MRD |
| Класс СИ | 31.02 |
| Год регистрации | 2000 |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Примечание | Заменен в 2000 г. на 15687-00 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.11.2001 |
| Номер сертификата | и1202 аннул |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 11 от 25.07.00 п.21313 от 15.10.96 п.36 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды
Нидерланды
Lelyweg 1, 7602 Ea Almelo, The Netherlands, тел. +31 (546) 534430, факс +31 (546) 534598
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 3 |
| Найдено поверителей | 1 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 15687-96: Описание типа СИ | Скачать | 222.5 КБ |
Другие Дифрактометры
Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применен...
Для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей. Область применения - машиностроение, металлургическая, горнод...
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и...
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и...
Для высокопроизводительного автоматизированного экспресс-анализа кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий и промышленных предприятий, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют кач...