20931-01: Xstress 3000 Дифрактометры - Производители, поставщики и поверители

Дифрактометры Xstress 3000

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 20931-01
Категория: Дифрактометры
Производитель / заявитель: Фирма "Stresstech OY", Финляндия
Скачать
20931-01: Описание типа
20931-01.pdf
Скачать 193.5 КБ
Нет данных о поставщике
Поверка
Дифрактометры Xstress 3000 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применения в машиностроении, металлургической, горно-перерабатывающей, химической, электронной и других отраслях промышленности, в также научно-исследовательских лабораториях и лабораториях контроля качества.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 20931-01
Действует по 01.03.2006
Наименование Дифрактометры
Модель Xstress 3000
Характер производства Серийное
Идентификатор записи ФИФ ОЕИ c228eec0-0ecb-94f1-4cb2-ec59004229c9
Год регистрации 2008
Информация устарела
Общие данные
Источник информации CD 2001г
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 31.02
Год регистрации 2008
Страна-производитель  Финляндия 
Примечание Заменен в 2008 г. на 20931-08
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМ
Адрес центра 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19
Руководитель центра Ханов Николай Иванович
Телефон (8*812) 251-76-01
Факс 113-01-14
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.03.2006
Номер сертификата 9640 аннул
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 06 от 15.05.08 п.21003 от 27.02.01 п.75
Производитель / Заявитель

Фирма "Stresstech OY", ФИНЛЯНДИЯ

 Финляндия 

Ohjelmaakaari 16, FIN-40500, JYVASKYLA, Finland, тел. +358-14-244-200, факс +358-14-244-093

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП ВНИИМ
Межповерочный интервал / Периодичность поверки
1 год
Зарегистрировано поверок
Актуальность информации 14.12.2025
Найти результаты поверки
Указан в паспорте или на самом приборе

Поверители

КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг
Дифрактометры Xstress 3000 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Скачать

20931-01: Описание типа
20931-01.pdf
Скачать 193.5 КБ

Другие Дифрактометры

Default ALL-Pribors Device Photo
20931-08
XSTRESS 3000 G3/G3R Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Stresstech OY", ФИНЛЯНДИЯ
Для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей. Область применения - машиностроение, металлургическая, горнод...
Default ALL-Pribors Device Photo
21685-01
D8 Advance, D8 Discover Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", ГЕРМАНИЯ
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и...
Default ALL-Pribors Device Photo
21685-06
D8 Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия; Фирма "Bruker AXS Inc.", США
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и...
Default ALL-Pribors Device Photo
21686-01
D4 Endeavor Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", ГЕРМАНИЯ
Для высокопроизводительного автоматизированного экспресс-анализа кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий и промышленных предприятий, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют кач...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойств...