20931-08: XSTRESS 3000 G3/G3R Дифрактометры рентгеновские - Производители, поставщики и поверители

Дифрактометры рентгеновские XSTRESS 3000 G3/G3R

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 20931-08
Категория: Дифрактометры
Производитель / заявитель: Фирма "Stresstech OY", Финляндия
Скачать
20931-08: Описание типа СИ Скачать 151 КБ
Нет данных о поставщике
Дифрактометры рентгеновские XSTRESS 3000 G3/G3R поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей. Область применения - машиностроение, металлургическая, горнодобывающая, химическая, электронная и другие отрасли промышленности, а также научно-исследовательские лаборатории и лаборатории контроля качества.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 20931-08
Наименование Дифрактометры рентгеновские
Модель XSTRESS 3000 G3/G3R
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2008
Страна-производитель  Финляндия 
Примечание Взамен № 20931-01
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМ
Адрес центра 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19
Руководитель центра Ханов Николай Иванович
Телефон (8*812) 251-76-01
Факс 113-01-14
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.06.2013
Номер сертификата 31480
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 06 от 15.05.08 п.210
Производитель / Заявитель

Фирма "Stresstech OY", Финляндия

 Финляндия 

Ohjelmaakaari 16, FIN-40500, JYVASKYLA, Finland, тел. +358-14-244-200, факс +358-14-244-093

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП-242-0649-2008
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 6
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 6 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

20931-08: Описание типа СИ Скачать 151 КБ

Описание типа

Назначение

Дифрактометры рентгеновские XSTRESS 3000 G3/G3R предназначены для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей.

Область применения дифрактометров - машиностроение, металлургическая, горнодобывающая, химическая, электронная и другие отрасли промышленности, а также научно-исследовательские лаборатории и лаборатории контроля качества.

Описание

Дифрактометры рентгеновские XSTRESS 3000 G3/G3R представляют собой автоматизированные мобильные приборы, предназначенные для работы как в закрытых помещениях, так и в полевых условиях.

Принцип действия дифрактометров основан на использовании связи между положениями максимумов интерференционной картины, образованной при дифракции рентгеновских лучей на кристаллической структуре и расстоянием между её кристаллографическими плоскостями.

Дифрактометры состоят из двух блоков: блока гониометра и блока управления с внешним IBM-совместимым компьютером. Блок гониометра включает в себя измерительную головку с двумя детекторами на основе МОП- структуры, рентгеновскую трубку с коллиматором и узлы сервомоторов для обеспечения перемещения измерительной головки относительно образца. Гониометр реализует фокусирующую геометрию Брега-Бретано и работает по схеме у-гониометра. Конструктивно блок гониометра представляет собой треногу, внутри которой установлена измерительная головка и блоки серводвигателей. Тренога может устанавливаться непосредственно на исследуемый объект (при его большом размере) либо на стол (если объект измерения небольшой). Блок управления содержит блоки питания рентгеновской трубки, сервомоторов, электронных узлов и емкость с водой и насос для автономного охлаждения рентгеновской трубки.

В дифрактометрах используется оптическая схема с модифицированной Т-геометрией с двумя детекторами, расположенными на дуге гониометра симметрично относительно рентгеновской трубки.

В процессе работы прибора происходит изменение угла наклона измерительной головки, фиксация положения максимума интерференционной картины и измерение расстояний между кристаллографическими плоскостями в зависимости от угла Т. На основе полученных измерений с помощью программного обеспечения проводится расчет механических напряжений.

Конструктивно дифрактометры выполнены в виде двух переносных блоков и отдельно устанавливаемого компьютером. Управление процессом измерения осуществляется от IBM совместимого компьютера с помощью специального программного комплекса.

Модели XSTRESS 3000 G3 и XSTRESS 3000 G3R отличаются наличием в G3R ( дополнительного устройства вращения гониометра.

Технические характеристики

Диапазон измерений углов дифракции (20), градус

125...162

Диапазон измерений углов дифракции относительно фиксированного положении детекторов, градус

±6,0

Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении угловых положений дифракционных максимумов, градус

±0,06

Относительное СКО выходного сигнала1, %, не более

3,0

Материал анода рентгеновской трубки

Си или Сг

Напряжение питания переменного тока , В

220 (+22; -33)

Потребляемая мощность, Вй

600

Габаритные размеры блока управления (ДхШхВ), мм

413x254x552

Масса блока управления, кг

25

Габаритные размеры блока гониометра (ДхШхВ), мм

492x574x555

Масса блока гониометра, кг

16

Средний срок службы, лет

8

Условия эксплуатации:

0-40

диапазон температуры окружающего воздуха, °C

диапазон относительной влажности окружающего воздуха, % при t=25 °C

5,0-80

диапазон атмосферного давления, кПа

84-106,7

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится в виде наклейки на корпус дифрактометра и на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом или методом компьютерной графики.

Комплектность

1. Дифрактометр рентгеновский

2. Комплект ЗИП.

3. Руководство по эксплуатации.

4. Методика поверки.

Поверка

Поверка приборов осуществляется в соответствии с документом "Дифрактометры рентгеновские XSTRESS 3000 G3/G3R фирмы "Stresstech OY", Финляндия. Методика поверки МП-242-0649-2008", утвержденным ГЦИ СИ "ВНИИМ им. Д.И.Менделеева" 15.02.2008 г.

Средства поверки: Государственный стандартный образец дифракционных свойств кристаллической решетки ПРИ-7а (оксид алюминия) ГСО 8631-2004.

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

1. ОСПОРБ-99 "Основные санитарные правила обеспечения радиационной безопасности".

2. Техническая документация фирмы-изготовителя.

Заключение

Тип дифрактометров рентгеновских XSTRESS 3000 G3/G3R утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа и метрологически обеспечен при ввозе в РФ, в эксплуатации и после ремонта.

Другие Дифрактометры

Default ALL-Pribors Device Photo
21685-01
D8 Advance, D8 Discover Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и...
Default ALL-Pribors Device Photo
21685-06
D8 Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и...
Default ALL-Pribors Device Photo
21686-01
D4 Endeavor Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия
Для высокопроизводительного автоматизированного экспресс-анализа кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий и промышленных предприятий, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют кач...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойств...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...