23118-02: Спектроскан-МД Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором - Производители, поставщики и поверители

Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором Спектроскан-МД

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 23118-02
Категория: Дифрактометры
Производитель / заявитель: ООО "НПО "Спектрон", г.С.-Петербург
Скачать
23118-02: Описание типа СИ Скачать 193.3 КБ
Нет данных о поставщике
Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором Спектроскан-МД поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательских институтов, заводских химических, физических, материаловедческих лабораториях; экспертных криминалистических, экологических, геологических лабораториях стационарного или передвижного типа.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 23118-02
Наименование Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором
Модель Спектроскан-МД
Технические условия на выпуск ТУ 4276-002-23124704-2001
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2002
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМ
Адрес центра 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19
Руководитель центра Ханов Николай Иванович
Телефон (8*812) 251-76-01
Факс 113-01-14
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.07.2007
Номер сертификата 12467
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 07 от 18.06.02 п.54
Производитель / Заявитель

ООО "НПО "Спектрон", г.С.-Петербург

 Россия 

190103, ул.Циолковского, д.10А, Факс 325-85-03, тел. 325-81-83 (190031, Гороховая ул., 49, факс 310-33-90, тел. 322-64-20, 194021, 2-й Муринский пр-т, 34, к.1, Лит.Б., пом.3-Н, факс 247-30-34, тел. 905-97-37)

Поверка

Методика поверки / информация о поверке приложение А к РЭ
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Скачать

23118-02: Описание типа СИ Скачать 193.3 КБ

Другие Дифрактометры

Default ALL-Pribors Device Photo
25040-03
КОР Дифрактометры-компараторы рентгеновские
ООО "Институт рентгеновской оптики", г.Москва
Для измерения угловых положений дифракционных максимумов, для определения кристаллографической ориентации монокристаллических пластин, предназначенных для изготовления изделий электронной техники и их сортировки по углу среза.
Default ALL-Pribors Device Photo
26305-04
XRD 6000, XRD 7000 Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгено-структурного анализа, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, а также а...
26305-09
XRD 6000, XRD 7000 Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Область применения - контроль производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозо-бумажной, фармацевтической промышленн...
Default ALL-Pribors Device Photo
26598-04
ДРН "Фарад" Дифрактометры рентгеновские настольные
ЗАО "НТЦ Экспертцентр", г.Москва
Для измерения углового положения линий дифракционного спектра исследуемого образца на промышленных предприятиях, в научно-исследовательских институтах, геологоразведке, криминалистике, фармакологии, обеспечении учебного процесса в ВУЗах.
Default ALL-Pribors Device Photo
31927-06
ДРОН-7 Дифрактометры рентгеновские
НПП "Буревестник", ОАО, г.С.-Петербург
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-ис...