Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором Спектроскан-МД
| Номер в ГРСИ РФ: | 23118-02 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | ООО "НПО "Спектрон", г.С.-Петербург |
Скачать
|
23118-02: Описание типа
23118-02.pdf
|
Скачать | 193.3 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Поверка
Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором Спектроскан-МД поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательских институтов, заводских химических, физических, материаловедческих лабораториях; экспертных криминалистических, экологических, геологических лабораториях стационарного или передвижного типа.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 23118-02 |
| Действует | по 01.07.2007 |
| Наименование | Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором |
| Модель | Спектроскан-МД |
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 784a39d5-4987-6c63-bb5b-1c2da93ec373 |
| Год регистрации | 2002 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Источник информации | CD 2002г |
| Технические условия на выпуск | ТУ 4276-002-23124704-2001 |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2002 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.07.2007 |
| Номер сертификата | 12467 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 07 от 18.06.02 п.54 |
Производитель / Заявитель
ООО "НПО "Спектрон", РОССИЯ, г.С.-Петербург
Россия
190103, ул.Циолковского, д.10А, Факс 325-85-03, тел. 325-81-83 (190031, Гороховая ул., 49, факс 310-33-90, тел. 322-64-20, 194021, 2-й Муринский пр-т, 34, к.1, Лит.Б., пом.3-Н, факс 247-30-34, тел. 905-97-37)
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | приложение А к РЭ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 14.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором Спектроскан-МД поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Скачать
|
23118-02: Описание типа
23118-02.pdf
|
Скачать | 193.3 КБ |
Другие Дифрактометры
25040-03
КОР
Дифрактометры-компараторы рентгеновские
ООО "Институт рентгеновской оптики", РОССИЯ, г.Москва
Для измерения угловых положений дифракционных максимумов, для определения кристаллографической ориентации монокристаллических пластин, предназначенных для изготовления изделий электронной техники и их сортировки по углу среза.
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгено-структурного анализа, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, а также а...
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Область применения - контроль производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозо-бумажной, фармацевтической промышленн...
26598-04
ДРН "Фарад"
Дифрактометры рентгеновские настольные
ЗАО "НТЦ Экспертцентр", РОССИЯ, г.Москва
Для измерения углового положения линий дифракционного спектра исследуемого образца на промышленных предприятиях, в научно-исследовательских институтах, геологоразведке, криминалистике, фармакологии, обеспечении учебного процесса в ВУЗах.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-ис...