Дифрактометры X'TRA
| Номер в ГРСИ РФ: | 26702-04 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Thermo Electron Corporation", США |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 26702-04 |
| Действует | по 01.04.2009 |
| Наименование | Дифрактометры |
| Модель | X'TRA |
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 6750029d-8e39-bec2-9182-1f0d609b0fdf |
Производитель / Заявитель
Фирма "Thermo Electron SA", ШВЕЙЦАРИЯ
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 1 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 14.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Дифрактометры X'TRA поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Другие Дифрактометры
15687-00
X'Pert PRO MPD/MRD, Cubi'x XRD, DCD II/II H, RD-100
Дифрактометры
Фирма "Philips Analytical B.V.", НИДЕРЛАНДЫ
15687-07
X'Pert PRO MPD/MRD и Cubi'x XRD
Дифрактометры рентгеновские
Фирма "PANalytical B.V.", НИДЕРЛАНДЫ
Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерения параметров кристаллической решетки и исследования твердых веществ методом порошковой дифрактометрии.
Дифрактометры рентгеновские настольные «MiniFlex 600», предназначенные для определения фазового состава кристаллических веществ (далее дифрактометры) на основе измерений распределения интенсивности рентгеновских лучей, отраженных от анализируемого ве...
66006-16
APD 2000 Pro, Explorer, Europe, AreX и StressX
Дифрактометры рентгеновские
Фирма "G.N.R. s.r.l.", ИТАЛИЯ
Дифрактометры рентгеновские моделей APD 2000 Pro, Explorer, Europe, AreX и StressX предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на объекте, содержащем кристаллические структуры при решении зад...