32470-15: А1220 MONOLITH, А1220 ANKER Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные - Производители, поставщики и поверители

Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER

Номер в ГРСИ РФ: 32470-15
Категория: Дефектоскопы
Производитель / заявитель: ООО "Акустические Контрольные Системы" (АКС), г.Москва
Скачать
32470-15: Описание типа СИ Скачать 507.7 КБ
Заказать
E-Mail: xrs@xrs.ru
Поставщик: ООО «Рентгенсервис»
Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений глубины залегания дефектов типа нарушений сплошности и однородности в различных неметаллических крупноструктурных материалах, в частности в бетонах, и в протяженных металлических конструкциях (анкерных болтах, прутках).

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 32470-15
Наименование Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные
Модель А1220 MONOLITH, А1220 ANKER
Срок свидетельства (Или заводской номер) 10.06.2020
Производитель / Заявитель

ООО "Акустические Контрольные Системы" (АКС), г.Москва

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 825
Найдено поверителей 29
Успешных поверок (СИ пригодно) 824 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 1 (0%)
Актуальность информации 20.12.2024

Поверители

Скачать

32470-15: Описание типа СИ Скачать 507.7 КБ

Описание типа

Назначение

Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений глубины залегания дефектов типа нарушений сплошности и однородности в различных неметаллических крупноструктурных материалах, в частности в бетонах, и в протяженных металлических конструкциях (анкерных болтах, прутках).

Описание

Дефектоскопы обеспечивают контроль объектов эхо-импульсным методом и методом прохождения.

Дефектоскоп с помощью пьезоэлектрического преобразователя или антенной решетки посылает в объект контроля короткие импульсы ультразвуковых волн. Импульсы отраженных обратно или прошедших сквозь материал ультразвуковых волн преобразуются в электрические сигналы и поступают в электронный блок дефектоскопа. После усиления, оцифровки и обработки встроенным процессором сигналы отображаются на дисплее.

Дефектоскопы обеспечивают измерение координат дефекта. Отображение эхо-сигналов возможно в развертках типа А.

Дефектоскоп конструктивно состоит из электронного блока, имеющего цветной TFT дисплей и пленочную клавиатуру управления, к которому с помощью кабелей подключаются сменные пьезоэлектрические преобразователи или антенные решетки. На дисплее отображаются результаты измерений и служебная информация, необходимая для управления дефектоскопом.

Фотографии общего вида дефектоскопов представлены на рисунке 1.

А1220 ANKER

Рисунок 1 - Общий вид дефектоскопов ультразвуковых низкочастотных А1220 MONOLITH, А1220 ANKER

А1220 MONOLITH

На рисунке 2 показаны место пломбировки корпуса дефектоскопа для предотвращения несанкционированного доступа и место нанесения знака утверждения типа.

Место нанесения знака утверждения типа

Место пломбировки

Рисунок 2 - Место пломбировки корпуса дефектоскопа и место знака утверждения типа

Программное обеспечение

На электронный блок дефектоскопов прошивается программное обеспечение (ПО) А1220 MONOLITH или А1220 ANKER, с помощью которого осуществляется управление и настройка дефектоскопа, сбор данных контроля, отображение принятых сигналов на дисплее, измерение координат дефектов.

Идентификационные признаки ПО дефектоскопа соответствуют данным, приведенным в таблице 1.

Таблица 1

Идентификационные данные (признаки)

А1220 MONOLITH

А1220 ANKER

Идентификационное наименование ПО

А1220 MONOLITH

А1220 ANKER

Номер версии (идентификационный номер) ПО

4.хх

4.хх

Цифровой идентификатор ПО

-

-

Другие данные, если имеются

-

-

За метрологически значимое принимается все ПО. ПО прошито во внутренней долговременной памяти дефектоскопа и защищено кодом производителя. При работе с дефектоскопом пользователь не имеет возможности влиять на процесс расчета и не может изменять полученные в ходе измерений данные.

Защита программного обеспечения дефектоскопов соответствует уровню «низкий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2

Характеристика

Значение

А1220 MONOLITH

А1220 ANKER

Диапазон устанавливаемых скоростей ультразвука, м/с

от 500 до 15 000

Диапазон устанавливаемых рабочих частот, кГц

от 25 до 250 с шагом 5

Диапазон перестройки усиления приемника, дБ

от 0 до 100

Отклонение установки усиления, дБ

±0,5

Диапазон измерений временных интервалов, мкс

от 0 до 4 000

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений временных интервалов мкс, где Тизм - измеренное значение временного интервала в мкс

±(0,1+0,0001- Тизм)

Диапазон измерений глубины залегания дефекта при скорости ультразвука 2500 м/с (бетон), мм

от 50 до 2150

_

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений глубины залегания дефекта при скорости ультразвука 2500 м/с (бетон), мм, , где H - измеряемая глубина залегания дефекта в мм

±(0,1- H+5,0)

_

Диапазон измерений расстояния до дефекта при скорости ультразвука 5500 м/с (сталь), мм

_

от 600 до 3000

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений расстояния до дефекта при скорости ультразвука 5500 м/с (сталь), мм, где L -измеряемая глубина залегания дефекта в мм

_

±(0,05- L +1,00)

Параметры электропитания:

Источник питания

Аккумулятор

Номинальное значение напряжения аккумулятора, В

11,1

Время непрерывной работы от полностью заряженного аккумулятора при нормальных климатических условиях, ч, не менее

8

Габаритные размеры электронного блока, мм

260х157х43

Масса электронного блока, кг, не более

0,8

Средняя наработка на отказ, ч

18 000

Средний срок службы, лет, не менее

5

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °C

- относительная влажность воздуха при температуре 35 °С, %, не выше

от - 20 до 55

95

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на заднюю панель дефектоскопа в виде пленочного шильдика и на титульные листы руководства по эксплуатации АПЯС.412231.010 РЭ и паспорта АПЯС.412231.010 ПС типографским способом.

Комплектность

Таблица 3 - Комплектность дефектоскопа А1220 MONOLITH

Наименование

Количество, шт.

Электронный блок дефектоскопа ультразвукового А1220 MONOLITH

1

Адаптер питания от сети переменного тока напряжением 220 / 15 В

1

Антенная решетка M2502 0.05A0R100X60PS

1

Кабель USB A - Micro B

1

Кабель LEMO-LEMO двойной 1,2 м

1

Чехол

1

Планшет

1

Жесткий кейс

1

Паспорт

1

Руководство по эксплуатации

1

Методика поверки

1

Компакт-диск с документацией

1

Таблица 4 - Комплектность дефектоскопа А1220 ANKER

Наименование

Количество, шт.

Электронный блок дефектоскопа ультразвукового А1220 ANKER

1

Адаптер питания от сети переменного тока напряжением 220 / 15 В

1

Преобразователь S0205 0.025A0R20X20CL

1

Кабель USB A - Micro B

1

Кабель LEMO-LEMO одинарный 1,2 м

1

Чехол

1

Планшет

1

Жесткий кейс

1

Паспорт

1

Руководство по эксплуатации

1

Методика поверки

1

Компакт-диск с документацией

1

Примечание - Допускается изменение комплекта поставки по требованию потребителя.

Поверка

осуществляется в соответствии с документом АПЯС.412231.010 МП «Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER. Методика поверки», утвержденным ФГУП «ВНИИМС» в апреле 2015 г.

Основные средства поверки:

Осциллограф цифровой запоминающий TDS2012B. Полоса пропускания от 0 до 100 МГц. Максимальная частота дискретизации 1 ГГц. Диапазон коэффициента отклонения от 2 мВ/дел до 5 В/дел). Погрешность установки коэффициента отклонения: в диапазоне 2мВ/дел - 5мВ/дел ±4%; в диапазоне 10 мВ/дел - 5 В/дел ±3%. Погрешность измерений временных интервалов, с ±(Кр/250+5040-6 Тизм+0,6 нс).

Генератор сигналов произвольной формы AFG3102C. Диапазон частот сигнала произвольной формы от 1 мГц до 50 МГц. Разрешение по напряжению 0,1 мВ или 4 разряда. Диапазон установки амплитуды напряжения Ua на нагрузку 50 Ом от 10 мВ до 10 В. Погрешность установки частоты ±1-10’6. Неравномерность АЧХ относительно уровня 1 В на частоте 1 кГц от 1 кГц до 5 МГц: ±0,15 дБ; от 5 до 25 МГц: ±0,3 дБ. Погрешность установки Ua на частоте 1 кГц ±(1 •10-2^ Ua +1 мВ).

Тестер ультразвуковой УЗТ-РДМ (в части аттенюатора). Диапазон регулировки ослабления аттенюатора от 0,1 до 96,0 дБ. Погрешность ±(0,1+0,0075^Ах) дБ, где Ах -установленное ослабление в дБ.

Образец CB703-1 из комплекта CB703. Скорость продольных волн 2750 м/с. Погрешность продольных волн ±100 м/с.

Образец CB101-2 из комплекта CB101. Скорость продольных волн 5250 м/с. Погрешность продольных волн ±100 м/с.

Сведения о методах измерений

Методы измерений изложены в документе АПЯС.412231.010 РЭ «Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER. Руководство по эксплуатации».

Нормативные документы

АПЯС 412231.010 ТУ «Дефектоскопы ультразвуковые низкочастотные А1220 MONOLITH, А1220 ANKER. Технические условия».

Другие Дефектоскопы

28833-15
A1212 Master, A1214 Expert Дефектоскопы ультразвуковые
ООО "Акустические Контрольные Системы" (АКС), г.Москва
Дефектоскопы ультразвуковые A1212 MASTER, A1214 EXPERT (далее по тексту -дефектоскопы) предназначены для измерений глубины и координат залегания дефектов типа нарушений сплошности и однородности в различных твердых материалах, в частности в металлах...
Default ALL-Pribors Device Photo
5744-82
ЭКОН-6 УД-23УМ Дефектоскопы ультразвуковые
Завод "Электроточприбор" ПО "Волна", Молдова, г.Кишинев
Default ALL-Pribors Device Photo
4640-82
ВД-23П Дефектоскопы
Опытный завод "Контрольприбор", г.Москва
63511-16
АМД Дефектоскопы автоматизированные мобильные
ОАО "Томский электромеханический завод им.В.В.Вахрушева" (ТЭМЗ), г.Томск
Дефектоскопы автоматизированные мобильные АМД (далее - дефектоскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов изображения объекта контроля, в том числе дефектов, при проведении неразрушающего контроля цифровым рентгенотелевизионным мет...
63483-16
USIP 40 Дефектоскопы ультразвуковые
Компания "GE Sensing & Inspection Technologies GmbH", Германия
Дефектоскопы ультразвуковые USIP 40 (далее - дефектоскопы) предназначены для измерения координат залегания дефектов типа нарушения сплошности и однородности материалов, полуфабрикатов, готовых изделий и сварных соединений, с определением координат их...