Дефектоскопы
Дефектоскоп - устройство для обнаружения дефектов в изделиях из различных металлических и неметаллических материалов методами неразрушающего контроля.
Наименований
551
Компаний
155
Дефектоскопы в ГРСИ РФ 551
96730-25
АВИКОН-20 УД3-125
Дефектоскопы ультразвуковые
АО «Радиоавионика», РОССИЯ, 190005, г. Санкт-Петербург, пр-кт Троицкий, д.4, лит.Б
Дефектоскопы ультразвуковые АВИКОН-20 УД3-125 (далее - дефектоскопы) предназначены для измерений координат выявленных дефектов, амплитуд сигналов от них в различных материалах при ручном и механизированном контроле.
96353-25
D-Expert 01
Дефектоскопы ультразвуковые
ИП Гребещенко Андрей Андреевич, РОССИЯ, 445031, Самарская обл., г. Тольятти, ул. Офицерская, 12В, офис 222
Дефектоскопы ультразвуковые D-Expert 01 (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений длительности временных интервалов и отношений амплитуд эхо-сигналов, отраженных от дефектов типа нарушения сплошности или однородности материала, коо...
96277-25
Sonaflex-PT-001
Дефектоскопы ультразвуковые
ООО «Компания» Нординкрафт», РОССИЯ, 162626, Россия, Вологодская обл., г. Череповец, ул. Годовикова, д. 12
Дефектоскопы ультразвуковые Sonaflex-РТ-ОО! (далее - дефектоскопы) предназначены для измерений толщины объекта контроля, длительности временных интервалов и отношений амплитуд сигналов, отраженных от дефектов типа нарушения сплошности или однородност...
95234-25
ДУМА-16
Дефектоскопы ультразвуковые многоканальные
Акционерное общество "Ордена Ленина Научно-исследовательский и конструкторский институт энерготехники имени Н.А. Доллежаля" (АО "НИКИЭТ"), г. Москва
Дефектоскопы ультразвуковые многоканальные ДУМА-16 (далее по тексту -дефектоскопы) предназначены для измерений временных интервалов, амплитуд эхо-сигналов, полученных от дефектов и несплошностей в объектах контроля, а также измерений глубины залегани...
Дефектоскопы ультразвуковые МЕГЕОН (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений глубины залегания дефектов типа нарушения сплошности, измерений толщины изделий, координат дефектов, а также для контроля однородности материалов, полуфаб...