Анализаторы цифровых сетей MD1230B, MD1231A1, MT7407A
| Номер в ГРСИ РФ: | 33865-07 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Фирма "Anritsu Corporation", Япония |
Скачать
| 33865-07: Описание типа СИ | Скачать | 172.6 КБ |
Анализаторы цифровых сетей MD1230B, MD1231A1, MT7407A поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения параметров цифровых сетей и проверки сетей и оборудования, имеющих скорость передачи до 10 Гбит/с, для проведения настройки, технического обслуживания, ремонта и контроля качества цифровых линий передач и оборудования.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 33865-07 |
| Наименование | Анализаторы цифровых сетей |
| Модель | MD1230B, MD1231A1, MT7407A |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 35.01 |
| Год регистрации | 2007 |
| Страна-производитель | Япония |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИФТРИ |
| Адрес центра | 141570, п/о Менделеево, Солнечногорский р-н, Московская обл. |
| Руководитель центра | Альшин Борис Иванович |
| Телефон | (8*095) 535-24-01, 535-84-36 |
| Факс | 535-73-86 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.03.2012 |
| Номер сертификата | 26740 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 02 от 15.02.07 п.06 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Anritsu Corporation", Япония
Япония
1800 Onna, Atsugi-shi, Kanagawa, 243-8555, Japan (490 Jarvis Drive, Morgan Hill, CA 95037-2809 USA) 5-1-1 Onna, Atsugi-shi, Kanagawa, 243-8555 Japan тел./факс +81-46-296-6682, E-mail: sales.esdc@anritsu.com
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | М-W1335AE-9.0 МП |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 33865-07: Описание типа СИ | Скачать | 172.6 КБ |
Смотрите также
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...
Для точных рентгеновских дифракционных измерений и обеспечивают получение мощного стабильного рентгеновского излучения с высокой интенсивностью в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического, биологического и...