Дифрактометры рентгеновские монокристальные X8PROSPECTOR
| Номер в ГРСИ РФ: | 33867-07 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия |
Скачать
| 33867-07: Описание типа СИ | Скачать | 207.9 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Дифрактометры рентгеновские монокристальные X8PROSPECTOR поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 33867-07 |
| Наименование | Дифрактометры рентгеновские монокристальные |
| Модель | X8PROSPECTOR |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2007 |
| Страна-производитель | США |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО ФНТЦ "Инверсия" |
| Адрес центра | 107031, г.Москва, ул.Рождественка, 27 |
| Руководитель центра | Пункевич Борис Семенович |
| Телефон | () |
| Факс | 208-49-62 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.03.2012 |
| Номер сертификата | 26772 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 02 от 15.02.07 п.08 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Bruker AXS Inc.", США
США
5465 East Cheryl Parkway, MADISON, Wi 53711, USA
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП ГНТЦ "Инверсия" |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 24.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 33867-07: Описание типа СИ | Скачать | 207.9 КБ |
Другие Дифрактометры
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургически...
38721-08
D2 CRYSO Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные
Фирма "Bruker Nano GmbH", Германия
Для рентгенографического определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов, а также качественного элементного анализа, для контроля качества производства в полупроводниковой промышленности, выращивания монокристаллов, в...
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца, с целью определения его качественного фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические,...
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, учебных заведен...