Дифрактометры рентгеновские Ultima IV

модификация «Ultima IV Protectus 185», при установленном монохроматоре

0D/0S связанные от -3 до 162 до 154

0S независимая -1,5 - +77 0D независимая -5 - +154

Минимальное значение шага, градус

0D, ^согласованное 0,0002

0D, 0S независимые 0,0001

модификация «Ultima IV 285» при установленном монохроматоре

0D/0S связанные от -3 до 162 до 154

0S независимая -1,5 - +77 0D независимая -5 - +154

Минимальное значение шага:

0D, 0S согласованное 0.0002

0D, 0S независимые 0.0001

Напряжение на аноде рентгеновской трубки, кВ, Анодный ток рентгеновской трубки, мА, Время установления рабочего режима, мин,

не более 50

не более 60

не более 30

модификации «Ultima IV Protectus 185»

модификации «Ultima IV 285»

модификации «Ultima IV 285» с увеличенным кожухом

1100x814x1630

1100x814x1630

1100x1075x1630

модификация «Ultima IV Protectus 185», кг, модификация «Ultima IV 285», кг,

не более 700

не более 700

Напряжение питания установки частотой (50±1) Гц, В,

Потребляемая мощность, (без компьютера и охлажд. блока), В А,

380+10 % не более 5000

Диапазон рабочих температур, °C, Относительная влажность (при 25 °C), %, Диапазон атмосферного давления, кПа (мм рт. ст.),

от +15 до +25 не более 70 84-107 (630-800)

Продолжительность непрерывной работы, ч,

без ограничений

Время наработки на отказ, ч,

не менее 2000

Мощность эквивалентной дозы в рабочем положении в любой точке на расстоянии 0,1 м от поверхности защиты, мкЗв/ч,

не более 1,0

параметров кристаллической решетки, нм,

± 0,0001

на диапазоне 20-100 градус, на диапазоне 100-160 градус,

±0,02 ±0,04

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения отношения интегральных интенсивностей, %,

±5

отношения интегральных интенсивностей, %,

±3

отражений по 20, градус

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения интегральной ширины Брэгговских отражений по 20, градус

±0,02

±0,02

для отражений с интегральной интенсивностью более 5%

для высокоугловых отражений и с интенсивностью менее 5 % от максимального Брэгговского отражения

±0,15

±0,35

для отражений с интегральной интенсивностью более 5%

для высокоугловых отражений и с интенсивностью менее 5 % от максимального Брэгговского отражения

±0,07

±0,12

Наименование

Единица измерения

Кол-во шт.

Дифрактометр рентгеновский «Ultima IV» в том числе:

шт.

1

Комплект руководства по использованию дифрактометра и программного обеспечения

комп.

2

Спецификация (паспорт)

экз.

1

Методика поверки

экз.

1

Упаковочный лист

шт.

1

Основной блок

шт.

1

1

Рентгеновский генератор

1.1

Рентгеновский генератор, 3 кВт

шт.

1

1.2

Высоковольтный кабель, сетевой кабель, кабель заземления

комп.

1

1.3

Рентгеновская трубка (Cu-изл., другие - опция)

шт.

1

1.4

Автоматическая заслонка для рентгеновского пучка

шт.

1

1.5

Теплообменник (опция) с комплектом шлангов

шт.

1

1.6

Понижающий трансформатор 380/200 В (может быть исключен из комплектации по требованию заказчика)

шт.

1

2

Базовая платформа

2.1

Стандартный стол

шт.

1

2.2

Защитный кожух, стандартный

шт.

1

Расширенный защитный кожух [опция]

шт.

1

3

Гониометр

3.1

Гониометр

шт.

1

3.2

Щели (по выбору, в соответствие с задачами измерений):

Тип 1: Фиксированные щели.

Щель на падающем пучке (DS) 0.05 мм, 1/2°, 1°

шт.

1

Антирассеивающая щель (SS) 1/2°, 1°

шт.

1

Приемная щель (RS) 0,15 мм, 0,3 мм

шт.

1

Щели по высоте: 2.0 мм, 5.0 мм, открытые

комп.

1

Кр фильтр: Ni-фильтр для медного излучения

шт.

1

Тип 2: Управляемые компьютером программируемые автоматические щели [опция]

Щель на падающем пучке (DS) 0.05 - 7.00 мм, шаг 0.01 мм

шт.

1

Антирассеивающая щель (SS) 0.05 - 7.00 мм, шаг 0.01

шт.

1

Приемная щель (RS) 0.05 - 7.00 мм, шаг 0.01 мм.

шт.

1

Щели по высоте: 2.0 мм, 5.0 мм, открытые

комп.

1

Кр фильтр: Ni-фильтр для медного излучения

шт.

1

Тип 3: Управляемые компьютером программируемые автоматические щели [опция]

Щель на падающем пучке (DS) 0.05 - 7.00 мм, шаг 0.01 мм

шт.

1

Антирассеивающая щель (SS) 0.05 - 20.00 мм, шаг 0.01

шт.

1

Приемная щель (RS) 0.05 - 20.00 мм, шаг 0.01 мм.

шт.

1

Щели по высоте: 2.0 мм, 5.0 мм, открытые

комп.

1

Кр фильтр: Ni-фильтр для медного излучения, 20 мм

шт.

1

3.3

Оптическая система

Щели Соллера на падающем пучке: Угловое расхождение 5.0 °

шт.

1

Щели Соллера на падающем пучке: Угловое расхождение2.5 “[опция]

шт.

Щели Соллера на дифрагированном пучке: Угловое расхождение 5.0 °

шт.

1

Щели Соллера на дифрагированном пучке: Угловое расхождение2.5 “[опция]

шт.

1

Параллельно щелевой анализатор PSA (для параллельного пучка): Угловое расхождение 0.5 “[опция]

шт.

1

Параллельно щелевой анализатор PSA (для параллельного пучка): Угловое расхождение 0.114 “[опция]

шт.

1

3.4

Графитовый фиксированный монохроматор [опция]

Монохроматор для Cu-излучения для использования в геометрии Брэгга-Брентано на дифрагированном пучке [опция].

шт.

1

Монохроматор для Cu-излучения для использования в геометрии Брэгга-Брентано и параллельном пучке на дифрагированном пучке [опция].

шт.

1

Монохроматоры для других типов излучения [опция].

шт.

1

3.5

Многослойное параболическое зеркало (СВО) для формирования параллельного пучка [опция]

шт.

1

3.6

Фокусирующая оптика (CBO-f) для локального анализа [опция]

шт.

1

3.7

Ge(220) монохроматор двукратного отражения на первичный пучок [опция]

шт.

1

4

Детектор рентгеновского излучения и контроллер

4.1

Сцинтилляционный детектор

шт.

1

4.2

Высокочувствительный скоростной детектор D/tex Ultra [опция]

шт.

1

5

Стандартное программное обеспечение

5.1

ПО для установки параметров системы и изменения конфигурации

шт.

1

5.2

ПО для управления источником рентгеновского излучения (управление напряжением и током, заслонкой, тренировка трубки)

шт.

1

5.3

ПО для выполнения автоматической юстировки (автоматическая юстировка гониометра и приставок, настройка параметров детектора, высокого напряжения на детекторе и коррекция потерь счета)

шт.

1

5.4

ПО для проведения измерений в ручном режиме (ручное управление щелями, всеми осями и детектором)

шт.

1

5.5

ПО для проведения стандартных измерений

шт.

1

5.6

ПО поиска пиков

шт.

1

5.7

ПО отображения данных из нескольких файлов

шт.

1

5.8

ПО определения интегральной интенсивности (в том числе сглаживание профиля, выделение фона, разделение дублета)

шт.

1

5.9

ПО отображения и редактирования параметров измерений

шт.

1

5.10

ПО перевода данных из бинарного формата в ASCII формат и текстовый формат

шт.

1

6

Прикладное программное обеспечение [опция]

6.1

PDXL Basic Package (основной пакет)

шт.

1

6.2

Дополнительные приложения к PDXL

шт.

1

PDXL Qualitative analysis (качественный анализ)

шт.

1

PDXL Quantitative analysis (количественный анализ)

шт.

1

PDXL Comprehensive analysis (полный анализ)

шт.

1

PDXL Rietveld analysis (Ритвельд)

шт.

1

6.3

База данных ICDD PDF-2 (или другие - по заказу)

шт.

1

6.4

База данных CRYSTMET-X (кристаллографические данные для металлов, включая сплавы, интерметаллиды и минералы)

шт.

1

6.5

Positive Pole Figure (прямые полюсные фигуры)

шт.

1

6.6

Inverse Pole Figure (обратные полюсные фигуры)

шт.

1

6.7

Residual Stress (остаточные напряжения)

шт.

1

6.8

3D Explore RSM&PF (трехмерное отображение и обработка карты обратного пространства и данных полюсных фигур)

шт.

1

6.9

Long Periodicity (анализ материалов с большим периодом решетки)

шт.

1

6.10

NANO-Solver (анализ распределения размера частиц/пор и анализ длины корреляции с использованием уточнения данных полученных на основе данных малоуглового рассеяния)

шт.

1

6.11

Pore-Size Analysis (анализ распределения размера частиц/пор и анализ диффузного рассеяния с помощью уточнения кривых качания и данных малоуглового рассеяния, полученных методом на отражение)

шт.

1

6.12

GXRR (моделирование многослойных структур и анализ данных многослойных образцов, полученных с помощью метода рефлектометрии).

шт.

1

6.13

Rocking Curve simulation (моделирование кривых качания)

шт.

1

7

Набор дополнительных принадлежностей

7.1

Центрирующая щель

шт.

1

7.2

Юстировочная пластина

шт.

1

7.3

Пластина для корректировки потерь счета

шт.

1

7.4

Набор поглотителей рентгеновского излучения

- медные пластины толщиной 0.3мм         4 шт.

- алюминиевые пластины толщиной 0.2мм    4 шт.

комп.

1

- алюминиевые пластины толщиной 0.1мм 3 шт.

7.5

Держатель поглотителей и фильтров

шт

1

7.6

Уровень

шт.

1

7.7

Набор шестигранных ключей 1-5 мм,

комп.

1

7.8

Комплект резиновых прокладок, 2 шт

комп.

1

8

Стандартная приставка для образцов

8.1

Стандартная приставка

шт.

1

8.2

Стеклянный держатель образца с углублением 0.5 мм

шт.

5

8.3

Стеклянный держатель образца с углублением 0.2 мм

шт.

2

8.4

Алюминиевый держатель образца

шт.

2

9

Дополнительные приставки [опция]

9.1

Приставка, обеспечивающая вращение образца при фазовом анализе

шт.

1

9.2

Приставка вращения образца с перемещением по оси Z

шт.

1

9.3

Приставка вращения капилляров

шт.

1

9.4

Герметичная приставка (вакуумная)

шт.

1

9.5

Многофункциональная приставка для анализа габаритных образцов (до 100 мм), для анализа текстуры, макронапряжений, тонких пленок

шт.

9.6

Приставка для анализа малоуглового рассеяния

шт.

1

9.7

Многофункциональная тонкопленочная приставка

шт.

1

9.8

Приставка - автоматический загрузчик на 10 образцов

шт.

1

9.9

Приставка - автоматический загрузчик на 48 образцов

шт.

1

9.10

Приставка для локального анализа с подвижным столиком и CCD камерой

шт.

1

9.11

Высокотемпературная приставка (до температуры 1500°С) в комплекте с температурным контроллером и вакуумным насосом

комп.

1

9.12

Высокотемпературная приставка Reactor-X (Тк.. 1000°С) с высокоскоростным нагревом для работы в газовой атмосфере в комплекте с температурным контроллером и вакуумным насосом

комп.

1

9.13

Приставка для средних и низких температур и (диапазон от -180 до 350°С) в комплекте с температурным контроллером и вакуумным насосом

комп.

1

9.14

Приставка для анализа волокон

шт.

1

9.15

Приставка для анализа элементов аккумуляторов

шт.

1

9.16

XRD-DSC приспособление (совмещенный PC А и ДСК анализ) в диапазоне температур -40.. 350°С с контролем влажности

шт.

1

9.17

Температурная приставка (Тк.. 350°С) с контролем влажности

шт.

1

9.18

Дополнительный привод для управления углом поворота счетчика в плоскости тонкопленочного образца (in-plane)

шт.

1

10

Управляющий компьютер* в составе:

Процессор Intel Pentium Dual Core, частота не менее 1500 МГц, материнская плата, оперативная память не менее RAM 512 Mb, жесткий диск не менее 80 Гб, видеокарта, привод Combo DVD и CD ±RW или DVD±RW, USB-2.0, два или более порта RS232C (СОМ). ОС Windows ХР Professional (лицензионная, английская версия)

шт.

1

Монитор LCD не менее 17"

шт.

1

Принтер струйный цветной

шт.

1

Клавиатура

шт.

1

Мышь

шт.

1

RS232C кабель

шт.

1

* может быть исключен из комплектации по требованию заказчика

11

Средства метрологического обеспечения:

набор обязательных и дополнительных стандартных образцов (СО) и мер на основе дифракционных свойств; объем обязательного набора СО определяется назначением конкретного дифрактометра (дополнительные СО поставляются как опция, могут быть заказаны, например в ФГУП «ВНИИМС»)

11.1

11.2

11.3

11.4

Основные стандартные образцы дифракционных свойств используемые при поверке и для калибровки угловых позиций:

- СО для определения параметров кристаллической решетки, (например, ПРИ-7а, ГСО 8631-2004 дифракционные свойства кристаллической решетки, оксид алюминия), (для калибровки второй СО, дифракционные свойства кристаллической решетки, например ГСО ПРФ-3 - кремний, обязателен при использовании позиционно-чувствительного детектора); - для учета инструментальных вкладов в интегральные ширины Брэгговских отражений (полуширины Брэгговских отражений), ГСО ПРФ-3, кремний, (для учета формы профилей Брэгговских отражений с невысоким атомным номером компонент), ГСО ПРФ-12, гексаборид лантана (для учета формы профилей Брэгговских отражений веществ с повышенными атомными номерами компонент)

- для контроля правильности определения физических вкладов (вкладов структурных несовершенств-микродефектов) в уширения при невысоких уровнях структурных дефектов (например, Мера физического уширения - кремний), МФУ-2-3 и при высоких уровнях структурных дефектов, (например, Мера физического уширения - сталь аустенитная), МФУ-2-4) для контроля измерений структурных параметров методами полнопрофильного анализа, включая методы Ритвелда (например, МЛКА-3-1, купрат иттрия-бария и ДР-)

комп.

1