Анализаторы спектра Ф4327
| Номер в ГРСИ РФ: | 4828-75 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | ОАО "Электроизмеритель", Украина, г.Житомир |
Анализаторы спектра Ф4327 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для спектрального анализа стационарных случайных процессов и периодических сигналов в диапазоне частот 20...20000Гц посредством измерения эффективных, средних и амплитудных значений напряжения электрических сигналов.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 4828-75 |
| Наименование | Анализаторы спектра |
| Модель | Ф4327 |
| Технические условия на выпуск | ГОСТ 4.15-69, ГОСТ 12090-66, ГОСТ 17168-71, ГОСТ 9763-67, ТУ25-04 |
| Класс СИ | 35.01 |
| Год регистрации | 1975 |
| Страна-производитель | Украина |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 86 от 20.05.75 п.35 |
Производитель / Заявитель
ОАО "Электроизмеритель", Украина, г.Житомир
Украина
10014, пл.Победы, 10, Тел/факс +380(412) 224-538, тел. 405-869
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Найдено поверителей | 1 |
| Актуальность информации | 14.04.2024 |
Поверители
Смотрите также
Для измерений атмосферного ультрафиолетового излучения в двух различных спектральных диапазонах.
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 0,31...2,8 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечно...
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 200...4000 нм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечног...
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 4,5...42 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечного...
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...