Анализаторы спектра Ф4327
Номер в ГРСИ РФ: | 4828-75 |
---|---|
Производитель / заявитель: | ОАО "Электроизмеритель", Украина, г.Житомир |
Анализаторы спектра Ф4327 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для спектрального анализа стационарных случайных процессов и периодических сигналов в диапазоне частот 20...20000Гц посредством измерения эффективных, средних и амплитудных значений напряжения электрических сигналов.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 4828-75 |
Наименование | Анализаторы спектра |
Модель | Ф4327 |
Технические условия на выпуск | ГОСТ 4.15-69, ГОСТ 12090-66, ГОСТ 17168-71, ГОСТ 9763-67, ТУ25-04 |
Класс СИ | 35.01 |
Год регистрации | 1975 |
Страна-производитель | Украина |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | - |
Телефон | () |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | нет |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 86 от 20.05.75 п.35 |
Производитель / Заявитель
ОАО "Электроизмеритель", Украина, г.Житомир
Украина
10014, пл.Победы, 10, Тел/факс +380(412) 224-538, тел. 405-869
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
Зарегистрировано поверок | 1 |
Найдено поверителей | 1 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 1 (100%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Смотрите также
Для измерений атмосферного ультрафиолетового излучения в двух различных спектральных диапазонах.
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 0,31...2,8 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечно...
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 200...4000 нм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечног...
Для измерений энергетической освещенности солнечным излучением в диапазоне длин волн 4,5...42 мкм, а также для измерений энергетической освещенности, создаваемой другими источниками непрерывного оптического излучения, например, имитаторами солнечного...
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...