Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di

Номер в ГРСИ РФ: 48284-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.

Скачать

48284-11: Описание типа СИ Скачать 401.6 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48284-11
Наименование Микроскоп сканирующий зондовый
Модель НаноСкан-3Di
Технические условия на выпуск ГОСТ 8.296-78
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Методика поверки / информация о поверке МП 48284-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 44501
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола Приказ 6335 от 25.11.11 п.16
Производитель / Заявитель

ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк

 Россия 

142190, Московская обл., ул.Центральная, д.7а, тел. 8(499)2722314, E-mail: nanoscan@newmail.ru

Другие Микроскопы

48289-11
WITec alpha 300 Микроскоп ближнепольный
Фирма "WITec GmbH", Германия
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
48291-11
VCM-200A Микроскоп конфокальный сканирующий
Фирма "Veeco Instruments", Великобритания
Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
48389-11
AxioImager m2M Микроскоп оптический
Фирма "Carl Zeiss MicroImaging GmbH", Германия
Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.