Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di
| Номер в ГРСИ РФ: | 48284-11 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк |
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Скачать
| 48284-11: Описание типа СИ | Скачать | 401.6 КБ | |
| Свидетельство об утверждении типа СИ | Открыть | ... |
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 48284-11 |
| Наименование | Микроскоп сканирующий зондовый |
| Модель | НаноСкан-3Di |
| Технические условия на выпуск | ГОСТ 8.296-78 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2011 |
| Методика поверки / информация о поверке | МП 48284-11 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 2 года |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМС |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Кононогов Сергей Алексеевич |
| Телефон | (8*095) 437-55-77 |
| Факс | 437-56-66 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 44501 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | Приказ 6335 от 25.11.11 п.16 |
Производитель / Заявитель
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Россия
142190, Московская обл., ул.Центральная, д.7а, тел. 8(499)2722314, E-mail: nanoscan@newmail.ru
Другие Микроскопы
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.