49259-12: GE ET Комплекты мер неразрушающего контроля - Производители, поставщики и поверители

Комплекты мер неразрушающего контроля GE ET

Номер в ГРСИ РФ: 49259-12
Производитель / заявитель: Фирма "GE Inspection Technologies GmbH", Германия
Скачать
49259-12: Описание типа СИ Скачать 514.9 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...
Нет данных о поставщике
Комплекты мер неразрушающего контроля GE ET поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Комплекты мер неразрушающего контроля GE ET (далее по тексту ╞ комплект) предназначены для настройки, поверки и калибровки вихретоковых дефектоскопов.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 49259-12
Наименование Комплекты мер неразрушающего контроля
Модель GE ET
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2012
Страна-производитель  Китай 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 14.03.2017
Номер сертификата 45751
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола Приказ 148 от 14.03.12 п.06
Производитель / Заявитель

Фирма "GE Sensing & Inspection Technologies", Китай

 Китай 

Поверка

Методика поверки / информация о поверке Раздел 5 "Методика поверки" паспорта "Комплект мер неразрушающего контроля GE ET. Паспорт"
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Зарегистрировано поверок 10
Найдено поверителей 4
Успешных поверок (СИ пригодно) 10 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Скачать

49259-12: Описание типа СИ Скачать 514.9 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Описание типа

Назначение

Комплекты мер неразрушающего контроля GE ET (далее по тексту - комплект) предназначены для настройки, поверки и калибровки вихретоковых дефектоскопов.

Описание

Комплект включает меры различного вида с искусственными дефектами (далее по тексту - меры), а также меры, воспроизводящие толщину зазора.

Меры имеют цилиндрическую и прямоугольную форму. На рабочей поверхности меры имеются искусственные дефекты в виде прорезей и отверстий.

Состав комплекта и внешний вид мер приведен в таблице 1.

Таблица 1.

Наименование и обозначение

Внешний вид

Мера 31А008

с искусственными дефектами в виде прорезей и с воспроизводящие толщину зазора.

Мера 29А028

с искусственными дефектами в виде прорезей

Мера 29А029

с искусственными дефектами в виде прорезей

Мера 29А047

с искусственными дефектами в виде прорезей

Мера 29А049

с искусственными дефектами в виде прорезей

Мера 29А032

с искусственными дефектами в виде прорезей

Мера 29А120

с искусственными дефектами в виде прорезей

Мера 33ATO16V

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Мера 33АТ004

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Мера 33АТ013

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Мера 33АТ022

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Мера 33АТ031

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Мера 33АТ040

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Мера 33АТ050

с искусственными дефектами в виде отверстий и прорезей в отверстиях

Набор мер 33А048/1

воспроизводящих толщину зазора

Набор мер 33А048/2

воспроизводящих толщину зазора

11

Набор мер 33А048/3

с искусственными дефектами в виде плоскодонных отверстий и прорезей

над

Технические характеристики

Мера 31А008

Материал

Сталь (тип EN1A)

Г абаритные размеры, мм

длина

102±1

ширина

25±1

высота

6,0±0,5

Номинальное значение ширины дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,15 ± 0,03

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ширины дефектов, мм

± 0,01

Номинальное значение глубины дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,50± 0,03

1,00±0,05

2,0±0,1

Пределы допускаемой абсолютной погрешности глубины дефектов, мм

± 0,01

Материал меры зазора

Пластик (тип CA)

Г абаритные размеры меры зазора, мм

длина

102±1

ширина

25±1

Номинальное значение толщины меры зазора и отклонение от номинального значения, мм

0,50±0,08

Пределы допускаемой абсолютной погрешности толщины меры зазора, мм

± 0,01

Мера 29А028; Мера 29А029; Мера 29А047; Мера 29А049.

Материал

мера 29А028

Сталь (тип EN1A)

мера 29А029

Алюминий (тип 7075-Т6 33%IACS)

мера 29А047

Алюминий (тип 7075-Т6 28-38%IACS)

мера 29А049

Сталь (тип 304)

Г абаритные размеры, мм

длина

102±1

ширина

25±1

высота *

6,0±0,5; 8,0±0,5

Номинальное значение ширины дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,10 ± 0,03

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ширины дефектов, мм

± 0,01

Номинальное значение глубины дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,20± 0,03 0,50±0,03 1,00±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности глубины дефектов, мм

± 0,01

*- высота определяется при оформлении заказа.

Мера 29А032; мера 29А120.

Материал

мера 29А032

Титан (тип Ti 6A14V)

мера 29А120

Алюминий (тип 7075-Т6 33%IACS)

Г абаритные размеры, мм

длина

80±1

ширина

35±1

высота

9,0±0,5

Номинальное значение ширины дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,10 ± 0,03

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ширины дефектов, мм

± 0,01

Номинальное значение глубины дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,20± 0,03 0,50±0,03 1,00±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности глубины дефектов, мм

± 0,01

Мера 33AT016V

Материал

Алюминий (тип 2025-T6)

Г абаритные размеры, мм

длина

60,0±0,2

ширина

30,0±0,2

высота

10,0±0,2

Номинальное значение диаметра отверстия и отклонение от номинального значения, мм

6,35±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности диаметра отверстия, мм

± 0,015

Номинальные значение ширины прорези в отверстии и отклонение от номинального значения, мм

0,15±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ширины прорези в отверстии, мм

± 0,015

Мера 33АТ004; мера 33АТ013; мера 33АТ022; мера 33АТ031; мера 33АТ040; мера 33АТ050.

Материал

мера 33АТ004

Алюминий (тип 7075-Т6)

мера 33АТ013

мера 33 АТ022

мера 33АТ031

мера 33 АТ040

мера 33 АТ050

Г абаритные размеры, мм

диаметр

38,0±0,5

высота

10,0±0,5

Номинальные значения диаметра отверстия, мм

мера 33 АТ004

1,58

мера 33АТ013

5,16

мера 33 АТ022

8,73

мера 33АТ031

12,30

мера 33 АТ040

15,85

мера 33 АТ050

19,87

Отклонение диаметра отверстия от номинального значения, мм

±0,025

Пределы допускаемой абсолютной погрешности диаметра отверстия, мм

± 0,01

Номинальные значение ширины прорези в отверстии и отклонение от номинального значения, мм

0,10±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ширины прорези в отверстии, мм

± 0,015

Набор мер 33А048/1; набор мер 33А048/2; набор мер 33А048/3

Материал

набор мер 33А048/1

Сталь (тип EN1A) и Алюминий (тип 7075-Т6)

набор мер 33А048/2

Пластик (тип СА)

набор мер 33А048/3

Алюминий (тип 7075-Т6)

Г абаритные размеры, мм

длина

210,0±0,5

ширина

40,0±0,5

Номинальное значение диаметра плоскодонных отверстий и отклонение от номинального значения, мм

26,0 ± 0,5

Пределы допускаемой погрешности диаметра плоскодонных отверстий, мм

± 0,1

Номинальное значение глубины плоскодонного отверстия и отклонение от номинального значения, мм

0,20±0,05

0,40±0,05

0,80±0,05

1,20±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности глубины плоскодонного отражателя, мм

± 0,01

Номинальное значение толщины мер зазора и отклонение от номинального значения, мм

0,25±0,05

0,50±0,05

1,00±0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности толщины мер зазора, мм

± 0,01

Номинальное значение ширины раскрытия дефектов и отклонение от номинального значения, мм

0,15±0,03

Пределы допускаемой абсолютной погрешности ширины раскрытия дефектов, мм

± 0,01

Масса комплекта, не более, кг

5

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист паспорта «Комплект мер неразрушающего контроля GE ET. Паспорт» типографским способом и на контейнер с мерами методом наклейки.

Комплектность

Наименование

Количество

Комплект мер неразрушающего контроля GE ET

1*

Паспорт

1 экз.

* - количество мер в комплекте определяется в соответствии с требованиями заказчика.

Поверка

осуществляется в соответствии с разделом 5 «Методика поверки» паспорта «Комплект мер неразрушающего контроля GE ET. Паспорт», утвержденным ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в декабре 2011 г.

Основные средства поверки: штангенциркуль ШЦ-11-250-0,05 , ГОСТ 166-89 диапазон измерений: 0-25 мм погрешность: ±0,002 мм; микрометр МК25-1 ГОСТ 6507-90 диапазон измерений: 0-25 мм погрешность: ±0,002 мм; прибор видеоизмерительный TESA - VISIO 300, регистрационный номер Государственного реестра №32658-06, диапазон измерений 0 - 300 мм, пределы допускаемой абсолютной погрешности, мкм (L в мм): ± (3 +10L/1000).

Сведения о методах измерений

Сведения о методиках (методах) измерений отсутствуют.

Нормативные документы

«Комплект мер неразрушающего контроля GE ET. Паспорт».

Рекомендации к применению

Выполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.

Смотрите также

Default ALL-Pribors Device Photo
Разрешен серийный выпуск до 01.01.1989
49260-12
SENSITEC Термометры медицинские инфракрасные
Фирма "Apexmed International B.V.", Нидерланды, Фирма "Shenzhen Everbest Machinery Industry Co., Ltd.", Китай
Термометры медицинские инфракрасные SENSITEC предназначены для бесконтактных измерений температуры тела и окружающей среды.
49261-12
System SURE Plus Люминометры
Фирма "Hygiena Internetional Ltd.", Великобритания
Люминометры System SURE Plus (далее по тексту ╞ люминометры) предназначены для измерения интенсивности люминесценции при разложении АТФ (аденозинтрифосфата) на поверхностях оборудования и инвентаря пищевой промышленности, сельскохозяйственного компле...
49262-12
LCMS-8030 Масс-спектрометры жидкостные
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония. Фирма "Shimadzu Corporation", США
Масс-спектрометры жидкостные LCMS-8030 (далее ╞ масс-спектрометры) предназначены для количественного химического анализа следовых количеств анализируемых веществ в сложных матрицах (метаболитов и лекарственных препаратов в биологических пробах), конт...