63454-16: MueTec 2010UV Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов - Производители, поставщики и поверители

Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV

Номер в ГРСИ РФ: 63454-16
Производитель / заявитель: Фирма "MueTec GmbH", Германия
Скачать
63454-16: Описание типа СИ Скачать 109.4 КБ
63454-16: Методика поверки Скачать 822.8 КБ
Нет данных о поставщике
Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV (далее - Установка) предназначена для измерений критических размеров элементов на фотошаблонах (CD-измерения).

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 63454-16
Наименование Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов
Модель MueTec 2010UV
Срок свидетельства (Или заводской номер) зав.№ µ150.047
Производитель / Заявитель

Фирма "MueTec GmbH", Германия

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 3 года
Зарегистрировано поверок 2
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 2 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

63454-16: Описание типа СИ Скачать 109.4 КБ
63454-16: Методика поверки Скачать 822.8 КБ

Описание типа

Назначение

Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV (далее - Установка) предназначена для измерений критических размеров элементов на фотошаблонах (CD-измерения).

Описание

Принцип действия Установки основан на оптическом измерении ширины линий на фотошаблонах. Установка представляет собой измерительно-вычислительный комплекс, в состав которого входит измерительная система и контроллер управления ПЭВМ.

Перед проведением измерений с помощью специальной калибровочной меры (фотошаблона) в Установке формируется информация о калибровочных поправках при измерениях критических размеров элементов топологии шаблонов, что позволяет исключить систематическую погрешность измерений.

Конструктивно контроллер управления выполнен в виде шкафа на котором расположены органы управления. Внешний вид Установки приведен на рисунке 1.

Место пломбировки от несанкционированного доступа. Место для размещения наклеек

(знака поверки и знака утверждения типа)

Рисунок 1 - Общий вид Установки MueTec 2010UV

1 - Дверь регулировки манометров, 2 - Главный включатель установки, 3 - Дверь блоков измерительного и сетевого контроллера, 4 - сигнальное устройство, 5 - микроскоп, 6 - клавишная панель оператора

Программное обеспечение

Программное обеспечение (ПО) Установки является специализированным ПО и представляет собой программный продукт управления пользователя с набором микрокоманд Dialog C Compiler (N418_54j2.exe, версия 5.0.6.0; диалоговое окно «NanoStar»).

ПО Dialog C Compiler (диалоговое окно «NanoStar») предназначено для управления Установкой и не может быть использовано отдельно от установки.

Влияние метрологически значимой части ПО Dialog C Compiler на метрологические характеристики Установки не выходит за пределы согласованного допуска.

Идентификационные данные (признаки) метрологически значимой части ПО Dialog C Compiler указаны в таблице 1.

Таблица 1

Наименование ПО

Идентификационное наименование ПО

Номер версии (идентификационный номер) ПО

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

Алгоритм вычисления идентификатора ПО

Управляющая программа пользователя с набором микрокоманд «NanoStar»

Dialog C Compiler

5.0.6.0

701a88b3bbe3db0c 280c41defcfb9150 6f4acf12d007eeb3f 620040e083a063f

ГОСТ Р

34.11-94

Метрологически значимая часть ПО Установки и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты от преднамеренных изменений. Уровень защиты ПО Установки Dialog C Compiler (N418_54j2.exe, версия 5.0.6.0; диалоговое окно «NanoStar») соответствует уровню «Средний» в соответствии с п. 4.5 рекомендации Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Основные метрологические и технические характеристики Установки приведены в таблице 2.

Таблица 2

Наименование характеристики

Значение характеристики

Диапазон измерений критических размеров элементов фотошаблона, мкм: - в режиме «Видимое излучение»

- в режиме «УФ-излучение»

от 0,8 до 100,0 от 0,5 до 100,0

Среднеквадратическое значение погрешности измерений критических размеров элементов фотошаблона*, нм

- в режиме «Видимое излучение»

- в режиме «УФ-излучение»

4

3

Минимальный размер элемента измеряемой изолированной линии фотошаблона, мкм:

- в режиме «Видимое излучение»

- в режиме «УФ-излучение»

0,8

0,5

Габаритные типоразмеры (длина х ширина хтолщина) измеряемых фотошаблонов, мм

152,4x152,4x6,35

127,0x127,0x3,05

127,0x127,0x2,30

Продолжение таблицы 2

Наименование характеристики

Значение характеристики

Область перемещения координатного стола измерительной платформы (XxY), мм:

- для фотошаблона 152,4*152,4*6,35

- для фотошаблона 127,0*127,0*3,05

- для фотошаблона 127,0*127,0*2,30

150*150

150*150

125*125

Г абаритные размеры установки (ширина * глубина * высота), мм

1500*1200*1800

Масса, кг

602

Напряжение питания частотой 50 Гц, В

220 ± 22

Потребляемая мощность, кВ • А, не более

1,6

Рабочий диапазон температуры, °С

от 18 до 25

Относительная влажность воздуха при температуре 18 - 25 °С, %, не более

75

Рабочее давление воздуха, гПа

5500± 500

Вакуум централизованный, гПа

минус 950 ± 50

*Среднеквадратическое значение погрешности измерений критических размеров элементов фотошаблона нормируется в диапазоне от 0,8 до 8 мкм.

Знак утверждения типа

наносится на лицевую панель Установки в виде наклейки и на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.

Комплектность

Комплект поставки включает:

- Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV - 1 комплект;

- комплект эксплуатационной документации (Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV. Руководство по эксплуатации) - 1 комплект;

- методика поверки - 1 шт.

Поверка

осуществляется по документу МП 63454-16 «Инструкция. Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV. Методика поверки», утвержденному руководителем ГЦИ СИ АО «НИЦПВ» 19.06.2015 г.

О сновные средства поверки:

- набор мер (фотошаблонов) критических линейных размеров элементов фотошаблонов (№ Госреестра 60717-15).

Сведения о методах измерений

Установка измерений критических размеров элементов фотошаблонов MueTec 2010UV. Руководство по эксплуатации.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя.

Смотрите также

63453-16
НКММ Наборы калибровочных мер
АО "НПФ "МИКРАН", г.Томск
Наборы калибровочных мер НКММ предназначены для хранения и передачи единиц комплексных коэффициентов отражения и передачи в коаксиальных волноводах с диаметрами поперечных сечений 7,0/3,04 мм, 3,5/1,52 мм и 2,4/1,04 мм с типами соединителей III; N; I...
63452-16
Д-50 В Устройства силоизмерительные
АО "НИИ физических измерений" (НИИФИ), г.Пенза
Устройства силоизмерительные Д-50В предназначены для измерений нагрузок.
63451-16
НЕТ 040 Датчики силы
АО "НИИ физических измерений" (НИИФИ), г.Пенза
Датчики силы НЕТ 040 (далее - датчики) предназначены для измерения сил сжатий и растяжений и преобразования их в электрический сигнал.
Комплексы аппаратно-программные «Орлан», «Орлан-М», «Орлан-Р» (далее -комплексы) предназначены для измерения значений текущего времени, синхронизированных с национальной шкалой времени Российской Федерации UTS (SU).
63449-16
DC450 Концентраторы данных
Компания "Landis+Gyr SAS", Франция
Концентраторы данных DC450 (далее - DC450) предназначены для измерений, коммерческого и технического учета электрической энергии и мощности, интервалов времени, а также автоматизированного сбора, накопления, обработки, хранения и отображения информац...