Дифрактометры рентгеновские настольные MiniFlex 600

Идентификационные данные (признаки)

Значения

Наименование ПО

MiniFlex Guidance управляющая программа

PDXL обработка данных

Идентификационное наименование

ПО

MiniFlex Guidance

PDXL2

Номер версии

1.2.1.х1)

1.2.1.22)

2.2.1.х1)

2.2.1.02)

Цифровой идентификатор (контрольная сумма)

(По ГОСТ Р 34.11.94)

8481A6906A41FDA

AA196619025B85285

38E0C87D5A1FD60B

E36FA3DDB1C53BEB

Алгоритм получения цифрового идентификатора

MD5

MD5

Примечания:

1) Фирма «Rigaku Corporation» оставляет за собой право улучшать программный продукт без уведомления пользователей и в рамках сервисных договоров на обслуживание поставляемых установок проводить обновления программ до последних версий. При этом вносимые изменения в последующие версии ПО не вносят изменений в метрологически значимую часть и уровень защиты ПО. Для проверки целостности установленного ПО фирма предоставляет цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) метрологически значимой части

2) версия для исходной поставки

Диапазон сканирования для регистрации дифрагированного рентгеновского излучения, градус:

- сцинтилляционный детектор

- полупроводниковый детектор

от 2 до 145

от 2 до 140

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения угловых позиций брэгговских отражений по 20, градус: - в диапазоне от 20 до 100 градусов включ.

- в диапазоне св. 100 до 145 градусов

±0,01

±0,01

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений массовой доли (атомной доли),

±3

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерений массовой доли (атомной доли), %

±1

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения параметров кристаллической решетки (размеров элементарной ячейки) в диапазоне от 0,01 до 0,20 нм, нм

±0,00004

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения параметров кристаллической решетки, нм

±0,00001

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения отношения интегральных интенсивностей в диапазоне от 12 до 100 %, %:

без приставки для вращения образца с увеличенными размерами областей когерентного рассеяния (блоков мозаики микроструктуры)

с приставкой для вращения образца

±31 ±4

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения отношения интегральных интенсивностей, %

±1

Напряжение на аноде рентгеновской трубки, кВ

от 20 до 40

Анодный ток рентгеновской трубки, мА

от 2 до 15

Время установления рабочего режима, мин, не более

1

Габаритные размеры (ширинахвысотахглубина), мм:

Основной шкаф

Устройство охлаждения (опция)

560х700х460

460х570х510

Масса, кг:

Основной шкаф

Устройство охлаждения (опция)

приблизительно 80 приблизительно 50

Напряжение переменного тока для питания установки, В Частота переменного тока, Гц

от 100 до 240±1 % 50/60±10 %

Рабочие условия эксплуатации:

Температура окружающей среды, °С Относительная влажность (при +25 °С), % Диапазон атмосферного давления, кПа (мм рт. ст.)

Продолжительность непрерывной работы, ч

от +15 до +25 не более 65 от 84 до 107 (от 630 до 800) без ограничений

Название по каталогу

Наименование

Количество

Примечание

дифрактометр в составе

Основной блок «MiniFlex 600»

1

Сетевой кабель (LAN)

1

Компьютер

1

Силовой кабель

1

Ящик с принадлежностями

1

Другие принадлежности

Шланги для охлаждающей воды

10 м

Поливинилхлоридные армированные шланги Tetron Внутренний диаметр 9 мм

Внешний диаметр 15

Соединения для шлангов охлаждающей воды

2

Фиксирующая пластина для выключателя OFF

1 набор

мм

Название по каталогу

Наименование

Количество

Примечание

Стандартное про-

MiniFlex Guidance -

граммное обеспе-

управляющая программа

чение:

MiniFlex

PDXL Basic Software - Базо-

1

вый блок программ пакета

PDXL

1

Программы для определения характеристик фазового состава (метод Ритвельда, количественного фазового анализа методом использования баз данных, метод добавок)

Установочный диск USB-ключ заглушка

1

Документация

Спецификация (Паспорт) Методика поверки “ Ди-

1

фрактометры рентгеновские настольные для фазового состава «MiniFlex 600»”

1

Руководство по безопасному использованию

1

Руководство по эксплуата-

1

ции

Руководство по эксплуатации программного обеспе-

1

чения PDXL

Руководство по качествен-

1

ному фазовому анализу Руководство по количест-

1

венному фазовому анализу Руководство по анализу дифракционной картины и

1

определения состава с помощью метода Ритвельда

1

Поставляются по

Дополнительно

Руководство по эксплуата-

1

(опционально):

ции приставок-держателей

согласованию с

образца

Руководство для проведе-

покупателем

ния комплексного анализа

1

данных порошковой рентгеновской дифракции

Название по каталогу

Наименование

Количество

Примечание

Дополнительное

Монохроматор на дифрагиро-

Поставляются по

оборудование

ванном пучке

1

согласованию с

Высокоскоростной одномерный (1D) детектор D/teX Ultra

1

покупателем

У стройство для вращения об-

1

разца

1

Устройство прижима образцов Автозагрузчик на 6 образцов Приставка для защиты от

1

влияния атмосферы (приставка для установки образца в без-

1

воздушной атмосфере)

Низкофоновые кремниевые

1

кюветы

Программный пакет PDXL-дополнительное или расширенное программное обеспечение для порошковой ди-

1

фрактометрии

-ICDD программное обеспече-

1

ние;

1

-ICDD база данных (база данных для количественного анализа);

1

Наименование

Кол-во

Средства метрологического обеспечения:

Набор (комплект) стандартных образцов (СО)

Комплект стандартных образцов дифракционных свойств, используемых при поверке:

- СО для контроля определения состава фаз и их структурных параметров ГСО 10660-2015 ПРФС-23а,в, (купрат иттрия-бария) и др.2)

- СО для контроля проведения количественного фазового состава, ГСО 9574-2010 ПРФ-12, (гексаборид лантана) и др. 2)

- СО для контроля определения состава с использование баз данных о параметрах кристаллической решетки (СО параметра кристаллической решетки), ГСО 7891-2001 ПР-1(ПРФ-9а), (силицид ванадия) и др. 2)

1 (один) комплект

Наименование

Кол-во

Дополнительные стандартные образцы и меры могут быть использованы для более полного метрологического обеспечения согласно опциям, применений дифрактометров, указанным в Спецификации (паспорте) на дифрактометр, например, с учетом атомного номера анализируемых веществ и при дополнительных применениях1), включая при анализе образцов с различными типами смесей фаз, с различными коэффициентами поглощения, с различной дисперсностью, для определения микронапряжений, размера областей когерентного рассеяния (размера кристаллитов и блоков мозаики), степени кристалличности и др.). Соответствующие дополнительные метрологические характеристики для этих применений включаются в Описание типа в поверки после проведения соответствующих дополнительных испытаний, поставляются как опция (изготовитель ФГУП «ВНИИМС»)

1(один) комплект Поставляются по согласованию с покупателем.

Примечания:

1) Комплектность поставки дополнительных стандартных образцов и мер может изменяться по согласованию с Заказчиком в зависимости от используемых дополнительных применений дифрактометров. Для поверки дифрактометров с использованием по дополнительным назначениям и с использованием различных приставок, влияющих на метрологические характеристики, необходимо расширение программы испытаний и дополнительные испытания с целью внесений изменений в описание типа и методику поверки, либо проведение испытаний единичных образцов настольных рентгеновских дифрактометров (с определенными конкретными заводскими номерами, и последующим включением этих испытанных образцов дифрактометров в Госреестр).

2) возможно использование других типов ГСО дифракционных свойств утвержденного типа, обеспечивающих соответствующее определения фазового состава с теми же уровнями погрешности результатов измерений.

Аттестованные характеристики

СО

Обозначение единицы величины

Аттестованные значения

СО

Погрешность аттестованного значения

СО при Р=0,95

ГСО 9574-2010 ПРФ-12

Параметр кристаллической решетки

нм

0,41569

0,00002

ГСО 7891-2001 ПР-1 (ПРФ-9а)

Параметр кристаллической решетки

нм

0,47249

0,00002

ГСО 10660-2015 ПРФС-23а,в Параметры кристаллической решетки

нм

0,3823 0,2887

1,168

0,0003 0,0002 0,001